ダイナミック光散乱光度計『DLS-8000 series』

最大4096chの相関計！高分子濃厚溶液などの多モード解析ができます

最終更新日 2025年03月18日

エクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定

ゼータ電位・粒子径測定システムを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定

最終更新日 2025年05月02日

光干渉法による高精度膜厚測定

光干渉法を用いた顕微分光膜厚計（OPTM）の測定原理

最終更新日 2025年05月02日

細菌から生産された細胞外膜小胞の粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いた細菌から生産される細胞外膜小胞の粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定

最終更新日 2025年05月02日

ＣＭＰスラリーのゼータ電位・粒子径の制御評価

ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてＣＭＰスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の制御評価

最終更新日 2025年05月02日

CMPスラリーとウェーハの静電相互作用

粒子径とゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

最終更新日 2025年05月02日

CMPスラリーの塩濃度によるゼータ電位の制御

ゼータ電位でCMPスラリーの分散・安定性を評価

最終更新日 2025年05月02日

砥粒の異なるCMPスラリーのゼータ電位測定

CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価

最終更新日 2025年05月02日

研磨パッドの表面ゼータ電位測定

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いて研磨パッドの表面ゼータ電位測定

最終更新日 2025年04月30日

種類の異なるリポソームの粒子径評価

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いて種類の異なるリポソームの粒子径評価

最終更新日 2025年04月30日

DDSナノ材料リポソームの粒子径とゼータ電位評価

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いてDDSナノ材料リポソームの粒子径とゼータ電位評価

最終更新日 2025年04月30日

DDSナノ材料リポソームのと等電点評価

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いてDDSナノ材料リポソームのと等電点評価

最終更新日 2025年04月30日

光干渉法における膜厚値と反射率の関係

薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

最終更新日 2025年05月02日

反射分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定

反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

最終更新日 2025年05月02日