光波動場三次元顕微鏡
粒子径・粒子径分布
ゼータ電位
半導体評価機器
膜厚計・厚み計
膜厚・厚み測定装置
フィルム評価機器
機能性フィルム評価機器
半導体プロセス
透過率・反射率測定装置
遺伝子解析
キャピラリー電気泳動
膜厚総合
分光関連機器
全光束測定装置
インプロセス用評価機器
分子量
LED検査プロセス
蛍光評価装置
光源照明評価機器
配光測定装置
テスト
1~1 件を表示 / 全 1 件
光波動場三次元顕微鏡『MINUK』
nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能!フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化
最終更新日 2025年03月07日