フィルム評価機器
フィルム評価機器
フィルム評価機器は、フィルムに光を照射し、透過・反射を測定することにより、膜厚・透過率・反射率・色・偏光情報・複屈折位相差・透明体の三次元観察などを行うことができます。研究開発から品質管理、全数検査まで対応可能です。
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光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能!フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化
最終更新日
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顕微分光膜厚計 OPTM series
1ポイント1秒測定&測定エリア最小3μm!高性能で使いやすい顕微分光膜厚計
最終更新日
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ラインスキャン膜厚計 インラインタイプ
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!
最終更新日
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リタデーション測定装置 RETS-100nx
独自の分光器だからできるリタデーションの高精度測定!
最終更新日
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ラインスキャン膜厚計 オフライン(ウェーハ対応タイプ)
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面検査を実現!
最終更新日
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リタデーション測定装置による超高リタデーション測定
超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる
最終更新日
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【半導体向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
1ポイント1秒測定!半導体製造における膜厚測定を革新。
最終更新日
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【光学部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
コーティング膜厚測定を1秒で!光学部品の品質管理に貢献
最終更新日
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【材料科学向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
1ポイント1秒測定!材料の特性評価を加速する顕微分光膜厚計
最終更新日
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【電子部品向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
1ポイント1秒測定!電子部品の品質管理を加速
最終更新日
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【エネルギー分野向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
薄膜の膜厚測定を1秒で!エネルギー分野の品質管理に貢献
最終更新日
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【包装業界向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
包装材のバリア性評価に!1秒測定&最小3μm測定
最終更新日
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【半導体向け】ラインスキャン膜厚計
ウェーハ基板上の薄膜を「抜け」なく全面測定!
最終更新日
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【ディスプレイ向け】ラインスキャン膜厚計
ラインスキャン方式でディスプレイの膜厚を均一に測定!
最終更新日
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【フィルム業界向け】ラインスキャン膜厚計
ラインスキャン方式でフィルムの膜厚を均一に測定
最終更新日
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【コーティング膜向け】ラインスキャン膜厚計
ラインスキャン方式で、コーティング膜厚を逃さず検査。
最終更新日
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【材料科学向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。フィルム表面を可視化・定量化。
最終更新日
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【創薬向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。細胞観察を革新。
最終更新日
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【食品業界向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの異物・欠陥を可視化!食品の安全性を向上。
最終更新日
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【化粧品成分分析向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価!化粧品の品質管理に貢献
最終更新日
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【材料科学向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。フィルム表面を可視化・定量化。
最終更新日
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【再生医療向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK
細胞培養における異物や欠陥を可視化し、培養環境を最適化
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【エネルギー業界向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価し、エネルギー材料の品質向上に貢献。
最終更新日