ラインスキャン膜厚計【オフライン（ウェーハ対応タイプ）】
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
基本情報
【仕様】 ■膜厚範囲：0.1～300 μm ■測定幅：最大300 mm ■測定間隔：50 ms～ ■装置サイズ(W×D×H)：660×950×1000 mm ■重量：約120 kg ■最大消費電力：AC100V±10％ 125VA ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
型番・ブランド名
LS series
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
カタログ（4）
カタログをまとめてダウンロード
この製品に関するニュース（2）
-
Webセミナー：高付加価値な機能性フィルムに不可欠な評価法と測定例 （2025年4月24日）
高品質・高機能なフィルムを製造するためには、光学特性の測定および品質評価をもとに最適な製造条件を構築することが欠かせません。本セミナーでは、当社の光を用いた測定技術を通じて、機能性フィルムや塗布剤の光学特性、面内均一性、表面改質、および分散性を評価し、高付加価値なフィルムを製造・開発する手法をご紹介します。
-
Webセミナー：フィルムの全面膜厚測定をリアルタイムに実現するラインスキャン膜厚計のご紹介（2025年5月21日）
ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に影響をもたらします。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。
取り扱い会社
大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。
