【材料科学向け】顕微分光膜厚計 OPTM series
1ポイント1秒測定！材料の特性評価を加速する顕微分光膜厚計
材料科学分野では、新しい材料の開発や既存材料の性能評価において、膜厚や光学特性の正確な測定が不可欠です。特に、薄膜や多層膜の特性評価は、材料の機能性を理解し、製品の品質を向上させる上で重要な要素となります。従来の測定方法では、測定に時間がかかったり、測定精度に課題があったりすることがありました。顕微分光膜厚計 OPTM seriesは、1秒/pointの高速測定と高精度な光学定数解析により、材料の特性評価における課題を解決します。 【活用シーン】 ・各種フィルム、ウェーハ、光学材料などのコーティング膜の膜厚測定 ・多層膜の膜厚測定と光学定数解析 ・研究開発における材料の特性評価 【導入の効果】 ・高速測定による研究開発の効率化 ・高精度な測定による材料特性の正確な把握 ・非破壊・非接触測定による材料への影響軽減
基本情報
【特長】 ・膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 ・顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ・1ポイント1秒以内の高速測定 ・顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ・エリアセンサーによる安全機構 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な新製品を提供しています。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、お客様のニーズに応える製品開発を行っています。
価格帯
納期
型番・ブランド名
OPTM series
用途／実績例
※詳しくはＰＤＦ資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（3）
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この製品に関するニュース（3）
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【2026年12月9日(水)～11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ
当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
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【2026年9月30日(水)～10月2日(金)】「高機能フィルム開発・製造展」出展のお知らせ
大塚電子株式会社は、幕張メッセにて開催される 「高機能フィルム開発・製造展」に出展いたします。 当社ブースでは新製品「光波動場三次元顕微鏡 MINUK」をはじめ、 「ラインスキャン膜厚計」などフィルム関連のインライン検査装置、 研究開発用膜厚計、リタデーション測定装置の実機展示をいたします。 今年は「透明体の傷や異物を可視化・定量化できる事例」や 「抜けのない全面フィルム検査事例」などラボ評価から生産管理まで使える 具体的な資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
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JASIS2026へ出展します
2026年9月2日（水）から4日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
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取り扱い会社
大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。