大塚電子株式会社 公式サイト

希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・粒子径分布・ゼータ電位測定　さらに固体表面、分子量の評価まで

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定　目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

【仕様(一部)】 ■分解能(x,y)：691nm(ワンショット)、488nm(合成) ■視野(x,y)：700×700μm ■分解能(z)：10nm(位相差) ■視野(z)：±700μm ■サンプルサイズ：100×80×t20mm(汎用サンプルホルダ取付時) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

※詳しくはＰＤＦ資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！サンプルを傷つけることもなく測定可能 ＜デモ機を無料貸し出し中＞

【こんなお悩みに】 ■測りたい“その場”ですぐに測れない ■人によってバラつく測定結果 ■測定精度が悪い ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単　＜デモ機を無料貸し出し中＞

【そのほかの特長】 ■光干渉法により非接触・非破壊で測定が可能 ■基材（ガラス・プラスチック）を選ばず測定可能 ■最大3層の多層膜を測定可能 ※製品の詳細は、PDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

食品の品質管理に！ハンディタイプの膜厚測定装置で、非破壊測定を実現。

【特長】 ・1.1kgと軽量で持ち運びが簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要で測定可能 ・基材を選ばず、様々なサンプルに対応 ・非破壊測定でサンプルを傷つけない ・測定結果のばらつきを軽減 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた技術を活かし、高品質な製品を提供しています。

包装材のバリア性を左右する膜厚を、非破壊で手軽に測定！

【特長】 ・最薄0.1μmまで検量線不要で膜厚測定可能 ・基材(ガラス・プラスチック)を選ばず測定可能 ・形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 ・1.1kgと軽量、持ち運びも簡単 ・測定結果のばらつきを抑制 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた技術を活かし、お客様のニーズに応じた製品を提供します。

持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！絶縁膜の膜厚測定に

【特長】 ・1.1kgと軽量で持ち運びが簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要で膜厚測定可能 ・基材(ガラス・プラスチック)を選ばず測定可能 ・形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 ・測定時の課題を解決 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。長年の経験と技術力で、お客様のニーズに合わせた最適なソリューションを提供します。

表面処理の膜厚測定を、手軽に、高精度に。デモ機無料貸し出し中！

【特長】 * 1.1kgの軽量設計で持ち運びが容易 * 最薄0.1μmまで検量線不要で測定可能 * ガラス、プラスチックなど、様々な基材に対応 * 形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 * 測定結果のばらつきを抑制 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を基盤に、お客様の課題解決に貢献します。長年の経験と技術力で、高品質な製品とサポートを提供します。

耐熱コーティングの膜厚測定に！非破壊で測定可能

【特長】 ・1.1kgと軽量、持ち運びも簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要で膜厚測定可能 ・基材(ガラス・プラスチック)を選ばず測定可能 ・形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 ・測定結果のデータ保存が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた技術を活かし、高品質な製品を提供しています。製品に関するご相談や、デモ機の無料貸し出しも行っておりますので、お気軽にお問い合わせください。

生体適合性材料の膜厚測定に。ハンディタイプの膜厚計　

【特長】 ・1.1kgと軽量で持ち運びが容易 ・最薄0.1μmまで検量線不要で測定可能 ・基材を選ばず、形状のあるサンプルも測定可能 ・非破壊測定 ・測定結果の再現性が高い 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を融合させ、医療機器分野に貢献しています。お客様のニーズに応じた製品開発と、きめ細やかなサポートを提供します。

自動車コーティングの膜厚測定を、手軽に、正確に。デモ機無料貸し出し中！

【特長】 ・1.1kgと軽量、持ち運び簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要 ・基材を選ばない（ガラス・プラスチックなど） ・形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 ・測定結果のバラつきを抑制 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、お客様のニーズに応じた製品開発を行っています。

反射防止膜の膜厚測定に！ハンディタイプの膜厚計

【特長】 ・1.1kgと軽量、持ち運びも簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要 ・基材(ガラス・プラスチック)を選ばない ・形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた技術を活かし、高品質な製品を提供しています。

太陽電池製造の効率化に貢献！非破壊で膜厚測定

【特長】 ・1.1kgと軽量で持ち運びが簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要 ・基材(ガラス・プラスチック)を選ばない ・形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な新製品を作り出しています。創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。

持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置！サンプルを傷つけずに測定

【特長】 ・1.1kgと軽量、持ち運びも簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要 ・基材(ガラス・プラスチック)を選ばない ・形状のあるサンプルも非破壊で測定可能 ・測定時の課題を解決 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、半導体製造における品質管理をサポートします。

nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価！化粧品の品質管理に貢献

【特長】 ・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ・任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた技術を活かし、お客様のニーズに合わせた製品を提供します。

nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。フィルム表面を可視化・定量化。

【特長】 ・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ・任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、材料科学分野における研究開発をサポートします。

細胞培養における異物や欠陥を可視化し、培養環境を最適化

【特長】 ・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ・任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術で、革新的な製品を提供しています。医用機器、分析機器、分光計測機器の3つの事業を展開し、お客様の課題解決に貢献します。

nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価し、エネルギー材料の品質向上に貢献。

【特長】 * nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 * 1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 * フォーカス不要で高速測定が可能 * 非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 * 任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 【当社の強み】 大塚電子は、独自の「光」技術を基盤に、お客様の課題解決に貢献します。長年の経験と技術力で、MINUKの導入から運用までをサポートします。

ゼータ電位・粒子径測定システムを用いたエクソソームの粒子径・粒子濃度・ゼータ電位測定

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ●平板状サンプルのゼータ電位を生体模擬環境下で測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いた細菌から生産される細胞外膜小胞評価

●静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●平板状サンプルのゼータ電位を生体模擬環境下で測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

ゼータ電位・粒子径測定システムを用いてＣＭＰスラリーの非イオン性界面活性剤添加によるゼータ電位・粒子径の評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●Siウェーハなど平板状サンプルのゼータ電位測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

ゼータ電位からCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●平板状サンプルのゼータ電位測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

ゼータ電位測定でCMPスラリーの分散・安定性を評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●平板状サンプルのゼータ電位を高塩濃度下で測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

CMPスラリーの等電点測定から分散性を評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

研磨パッドの表面ゼータ電位測定

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

粒子径測定装置を用いた種類の異なるリポソームの粒子径評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・粒子径分布測定が可能 ●標準仕様で最大5検体連続測定が可能 ●温度グラジエント機能搭載（0～90℃） ●オプションのオートサンプラ―との接続で最大50検体の連続測定が可能

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●平板状サンプルのゼータ電位を生体模擬環境下で測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システムを用いたDDSナノ材料リポソームの等電点評価

●静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●粒子径・ゼータ電位を生体模擬環境下で測定可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

有機顔料の分散性を高濃度状態で評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●標準仕様で5検体連続測定 ●1検体1分の高速測定

高濃度試料のゼータ電位・粒子径測定による分散安定性評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

コロイド分散系における無機粒子のｐHタイトレーションによる等電点の評価

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ●セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供

O/Wエマルションの粒子径測定

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・粒子径分布測定が可能 ●標準仕様で最大5検体連続測定が可能 ●温度グラジエント機能搭載（0～90℃） ●オプションのオートサンプラ―との接続で最大50検体の連続測定が可能

後方・側方・前方の3角度での動的光散乱測定で分離能を向上

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能

粒子径が異なるポリスチレンラテックスの粒子濃度測定

●希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ●標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能

光干渉法を用いた顕微分光膜厚計（OPTM）の測定原理

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

傾斜モデルを用いた薄膜の構造解析

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

反射分光法と他の測定手法の比較

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

ハードコートの膜厚測定

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

表面粗さを考慮した膜厚解析

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

屈折率の波長分散性を考慮した厚膜解析

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる

"リタデーション測定範囲 0 ～ 60,000nm リタデーション繰り返し性 3σ≦0.08nm （水晶波長板 約600nm） セルギャップ測定範囲 0 ～ 600μm （Δn=0.1の場合） セルギャップ繰り返し性 3σ≦0.005μm （セルギャップ約3μm、Δn=0.1の場合） 軸検出繰り返し性 3σ≦0.08° （水晶波長板 約600nm） 測定波長範囲 400 ～ 800nm （他選択可能） 検出器 マルチチャンネル分光器 測定径 φ2mm （標準仕様）

薄膜から厚膜まで高精度に測定が可能な顕微分光膜厚計『OPTM』

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

さまざまな用途のDLCコーティング厚みの測定

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm

傾斜モデルを用いたITOの構造解析

"●膜厚測定範囲：　1nm～35μm（機種選択による） ●測定時間　　：　1秒／1ポイント ●測定径　　　：　φ5μm、φ10μm、φ20μm、φ40μm"

広ダイナミックレンジ！高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的　

【測定項目】 ■発光スペクトル測定 ■透過・吸収スペクトル測定 ■反射スペクトル測定 ■蛍光測定 ■物体色測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！

【仕様】 ■膜厚範囲：0.1～300 μm ■測定幅：500 mm～最大10 m ■測定間隔：1 ms～ ■装置サイズ(W×D×H)：81×140×343 mm ■重量：4 kg(ヘッドのみ) ■最大消費電力：AC100V±10％ 125VA ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

全面を高速かつ高精度に膜厚測定可能！

【仕様】 ■測定範囲：0.1～300 μm ■測定幅：250 mm ■測定間隔：1 ms～ ■装置サイズ(W×D×H)：459×609×927 mm ■重量：60 kg ■消費電力：AC100V±10％ 125VA ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面検査を実現！

【仕様】 ■膜厚範囲：0.1～300 μm ■測定幅：最大300 mm ■測定間隔：50 ms～ ■装置サイズ(W×D×H)：660×950×1000 mm ■重量：約120 kg ■最大消費電力：AC100V±10％ 125VA ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

光源や照明器具の配光特性を測定する装置です　

GP-500 　　　　光学系：２軸ゴニオメータ、Φθ座標系 　　　　光路長：500 mm以下 　　　　対応サンプル：LEDチップ GP-1100 　　　　光学系：２軸ゴニオメータ、Φθ座標系 　　　　光路長：500 mm ～ 1,500 mm 　　　　対応サンプル：一般照明光源及び器具、モジュール GP-2000 　　　　光学系：２軸ゴニオメータ、αβ座標系/Φθ座標系 　　　　光路長：1,500 mm以上 　　　　対応サンプル：直管形ランプを含む一般照明光源及び器具

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

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半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！

【仕様】 ■膜厚測定範囲：搭載する検出器による ■サンプルサイズ：φ300mm ■サイズ：500(W)×500(D)×1680(H)mm ■アライメント機能：グローバルアライメント、測定点アライメント ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

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インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

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独自の分光器だからできるリタデーションの高精度測定！

【仕様】 ■測定項目(フィルム、光学材料)：リタデーション(波長分散)、遅相軸、Rth、3次元屈折率など ■測定項目(偏光板)：吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率など ■測定項目(液晶セル)：セルギャップ、プレチルト角、ツイスト角、配向角など ■リタデーション測定範囲：0～60,000nm ■リタデーション繰り返し性：3σ≦0.08nm(水晶波長板 約600nm) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

光ファイバーにより自由な測定系が可能　LED生産工程での光学特性を高速で評価

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各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに！　

■多層厚み測定が可能 ■テンポラリーウェーハ(仮貼り合わせウェーハ)の各層厚み測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

IESNAのLM-79とLM-80に準拠した測定システム！分光全放射束測定の様々な要望に対応

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LED単体から照明器具まで幅広い光源の全光束測定が可能

FMシリーズ 　　　　積分球サイズ：250 mm ～ 2,000 mm 　　　　測定範囲：0.07 lm ～ 430,000 lm（積分球サイズによる） 　　　　サンプルサイズ（最大）：Φ545 mm以下（積分球サイズによる） HMシリーズ 　　　　積分半球サイズ：300 mm ～ 2,000 mm 　　　　測定範囲：0.01 lm ～ 120,000 lm（積分半球サイズによる） 　　　　サンプルサイズ（最大）：Φ660 mm以下（積分半球サイズによる） 【各種照明器具、ランプの下記項目の測定評価】 　全光束　(JIS C 7801 / JIS C 8152) 　全放射束 　分光全放射束 　等色標準偏差 　色度座標（u, v）〔JIS Z 8725〕 　色度座標（x, y）〔JIS Z 8724〕 　色度座標（u', v'）〔JIS Z 8781-5〕 　相関色温度とDuv〔JIS Z 8725〕 　主波長（Dominant）と刺激純度（Purity）〔JIS Z 8781-3〕 　演色性評価数（Ra, R1～R15）〔JIS Z 8726〕 　ピーク波長、半値幅

紫外域でも高精度な測定を実現！

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

分光放射強度の角度分布を測定し、配光特性(光度・色度など)を評価！　

GP-500 　　　　光学系：２軸ゴニオメータ、Φθ座標系 　　　　光路長：500 mm以下 　　　　対応サンプル：LEDチップ GP-1100 　　　　光学系：２軸ゴニオメータ、Φθ座標系 　　　　光路長：500 mm ～ 1,500 mm 　　　　対応サンプル：一般照明光源及び器具、モジュール GP-2000 　　　　光学系：２軸ゴニオメータ、αβ座標系/Φθ座標系 　　　　光路長：1,500 mm以上 　　　　対応サンプル：直管形ランプを含む一般照明光源及び器具 【評価項目】 ■光度の角度分布(配光) ■分光放射束(スペクトル) ■色度座標(x, y)[JIS Z 8724] ■色度座標(u, v)[JIS Z 8725] ■色度座標(u', v')[JIS Z 8781-5] ■相関色温度とDuv[JIS Z 8725] ■主波長(Dominant)と刺激純度(Purity)[JIS Z 8781-3] ■IES(LM63-2002及びJIS C 8105-5準拠)ファイル ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

希薄系から濃厚系まで、医薬品製剤の粒子径・ゼータ電位を測定

【特長】 ・希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ・多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ・静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ・動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 ・ゲル試料を複数点測定することによりゲルの網目構造や不均一性の評価が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。分析機器分野では、光散乱技術を応用し、粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を提供することで、医薬品の研究開発をサポートします。

PCRからキャピラリー電気泳動までシームレス

【仕様(一部)】 ■PCR機能：サンプル処理数 8well ■CE自動サンプリング：6サンプル処理/回 ※6サンプル(Well)以外にポジネガ用に2Well、計8Well搭載 ■分離電圧：1～8kV ■本体とパソコン接続：USB ■電源：AC 100-240V ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

簡単な前処理で定性・定量分析! 　陽イオン・陰イオン・有機酸・アミノ酸・金属・糖類などを一台の装置で分析可能

※詳細はお問い合わせ、もしくはPDFをダウンロードしてください。

使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置

【測定範囲（理論値）】 ■粒子径 0.6nm～10μm ■濃度範囲 0.00001～40％ ■温度範囲 0～90℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

動的光散乱法により超微粒子および希薄溶液中の微粒子測定に最適

【測定対象】 ■合成高分子 ・高分子希薄溶液、ラテックス、エマルジョン、ミセル、ゲル、ゾル、高分子濃厚溶液、高分子溶融液 ■生体高分子 ・タンパク、核酸、ウィルス、多糖、リポソーム、ベシクル、細胞 ■無機物 ・無機高分子希薄溶液、セラミックス、顔料、磁性体、金属コロイド ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

高分子の構造変化をリアルタイムに評価

【仕様】 ■測定原理：小角光散乱法 ■光源：半導体レーザ(波長785nm) ■検出器：CMOSカメラ ■測定範囲(理論値) ・球晶径 1.3～175μm ・相関長 0.1～100μm ■ダイナミックレンジ：120db以上(HDR機能使用) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

全30事例！バイオ・医薬品・バイオマテリアル分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

【その他の分析機器のアプリケーションデータ(抜粋)】 ■種類が異なるリポソームの粒子径評価 ■DDSナノ材料リポソームの粒子径とゼータ電位評価 ■DDSナノ材料リポソームの等電点評価 ■リポソームの固定水和層の厚み評価 ■粒子径測定による点眼剤の過酷試験評価 ■動的光散乱法によるIgG抗体の熱転移評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

全25事例！食品分野のアプリケーションデータを掲載した資料を進呈中

【その他の分析機器のアプリケーションデータ(抜粋)】 ■人口甘味料の分析 ■ヨーグルト中の有機酸の測定 ■だし中の旨味成分の分析 ■フルクトース水溶液-拡散係数の温度依存性評価 ■シクロデキストリンのゼータ電位・粒子径評価 ■ゼラチン粒子の電荷状態測定による物性評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

全25事例！高分子・無機粒子などを分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

【その他の分析機器のアプリケーションデータ(抜粋)】 ■金コロイド粒子の粒子径とゼータ電位の評価 ■無機粒子のpH変化による等電点の評価 ■分散剤濃度の最適化評価 ■量子ドットの粒子径評価 ■蛍光カットフィルタを用いた量子ドットの粒子径評価 ■リチウムイオン電池材料の粒子径・ゼータ電位測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

全30事例！ナノカーボン・界面活性剤・ゲル・平板試料等を分析したアプリケーションデータ掲載資料を進呈中

【その他の分析機器のアプリケーションデータ(抜粋)】 ■純水中での界面活性剤ミセルの粒子径評価 ■塩の有無による界面活性剤ミセルの粒子径評価 ■ゲルの網目構造解析 ■ハイドロゲルのゲルの網目構造評価 ■プラスチック容器のゼータ電位評価 ■親水性フィルムの表面ゼータ電位測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

食品の品質と安全性を向上させる、粒子径・ゼータ電位測定システム

【特長】 ・希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ・多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ・静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ・動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 ・ゲル試料を複数点測定することによりゲルの網目構造や不均一性の評価が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、食品分野における品質管理をサポートします。

焼結体の品質向上に貢献する、粒子径・ゼータ電位測定システム

【特長】 ・希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ・静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ・動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、お客様の製品開発をサポートします。

電極材料の品質管理に。粒子径、ゼータ電位、分子量を高精度測定。

【特長】 ・希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ・静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ・動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。長年の経験と技術力で、お客様のニーズに合わせた最適なソリューションを提供します。

希薄系から濃厚系まで、高精度な粒子径・ゼータ電位測定でデバイス性能を向上

【特長】 ・希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ・静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ・動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な製品を提供しています。分析機器事業では、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、電子材料分野への展開を図ります。

希薄から濃厚溶液まで対応。汚染物質の粒子径・ゼータ電位を測定。

【特長】 ・希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ・静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ・動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、お客様のニーズに応じた製品を提供しています。

薬効評価を加速する、使いやすさにこだわった粒径測定装置

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。長年の経験と技術力で、お客様の課題解決に貢献します。

化粧品の浸透性を左右する粒子径を測定

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用しています。

食品の品質管理をサポートする、使いやすい粒径・粒度分布測定装置

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、食品業界の品質管理をサポートします。

塗料の品質管理に貢献する、使いやすい粒度分布測定装置

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、お客様の製品開発をサポートします。

セラミックスの強度評価に貢献する、使いやすい粒度分布測定装置

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を応用し、お客様のニーズに応じた製品を提供しています。

電池材料の品質管理と効率化を実現する粒径・粒度分布測定装置

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を応用し、お客様のニーズに応じた製品を提供しています。

触媒反応の効率化をサポートする、使いやすい粒径・粒度分布測定装置

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な新製品を提供しています。分析機器事業では、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、お客様の研究開発をサポートします。

1ポイント1秒測定！半導体製造における膜厚測定を革新。

【特長】 ・膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 ・顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ・1ポイント1秒以内の高速測定 ・顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ・エリアセンサーによる安全機構 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた技術を活かし、お客様のニーズに合わせた製品を提供します。

コーティング膜厚測定を1秒で！光学部品の品質管理に貢献

【特長】 * 膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 * 顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） * 1ポイント1秒以内の高速測定 * 顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） * エリアセンサーによる安全機構 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な新製品を提供しています。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、医用機器、分析機器、分光計測機器の分野で事業を展開しています。

1ポイント1秒測定！電子部品の品質管理を加速

【特長】 * 膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 * 顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） * 1ポイント1秒以内の高速測定 * 顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） * エリアセンサーによる安全機構 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、お客様のニーズに応じた製品を提供しています。科学機器、光学機器、工業計測機器の開発・製造・販売を通じて、お客様の品質管理をサポートします。

薄膜の膜厚測定を1秒で！エネルギー分野の品質管理に貢献

【特長】 ・膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 ・顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ・1ポイント1秒以内の高速測定 ・顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ・初めての方でも光学定数解析が可能な楽々解析ウイザード 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、お客様のニーズに応じた最適なソリューションを提供します。

包装材のバリア性評価に！1秒測定＆最小3μm測定

【特長】 ・膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 ・顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ・1ポイント1秒以内の高速測定 ・顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ・エリアセンサーによる安全機構 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な新製品を作り出しています。創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。

ウェーハ基板上の薄膜を「抜け」なく全面測定！

【特長】 ・ラインスキャン方式による全面測定 ・12inchウェーハ対応 ・高速測定 ・膜厚範囲：0.1～300 μm ・測定幅：最大300 mm 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、お客様のニーズに応じた製品を提供します。

ラインスキャン方式でディスプレイの膜厚を均一に測定！

【特長】 ・ラインスキャン方式による全面検査 ・12inchウェーハの面内分布を高速測定 ・膜厚範囲：0.1～300 μm ・測定幅：最大300 mm ・高精度膜厚演算処理技術 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な製品を提供しています。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、お客様の課題解決に貢献します。

食品中の異物分析を迅速に！定性・定量分析を一台で。

【特長】 ・シンプルな前処理で短時間分析 ・1台で、陽イオン・陰イオン・有機酸、アミノ酸、タンパク質、糖の分析可能（金属イオンの価数による分離も可能） ・高価なカラムは使用せず、試薬量も少量なのでランニングコスト削減 ・バッファマニュアルなど豊富なアプリケーションによる優れた技術サポート ・微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能 ・バブルセルキャピラリにより分離能を損なわず3～5倍の高感度化を実現 ・対イオンや夾雑物の影響を受けにくく前処理がほとんど不要 ・高価なカラムや溶剤を使用しないため経済的で環境にも優しい ・Open LAB CDS ChemStation により、日本語対応 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、お客様のニーズに応じた最適なソリューションを提供します。

nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。フィルム表面を可視化・定量化。

【特長】 * nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 * 1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 * フォーカス不要で高速測定が可能 * 非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 * 任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、材料科学分野の発展に貢献します。

陽イオン・陰イオンなど、多様な成分を一台で分析！

【特長】 ・シンプルな前処理で短時間分析 ・1台で、陽イオン・陰イオン・有機酸、アミノ酸、タンパク質、糖の分析可能（金属イオンの価数による分離も可能） ・高価なカラムは使用せず、試薬量も少量なのでランニングコスト削減 ・バッファマニュアルなど豊富なアプリケーションによる優れた技術サポート ・微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能 ・バブルセルキャピラリにより分離能を損なわず3～5倍の高感度化を実現 ・対イオンや夾雑物の影響を受けにくく前処理がほとんど不要 ・高価なカラムや溶剤を使用しないため経済的で環境にも優しい ・Open LAB CDS ChemStation により、日本語対応 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の分析ニーズに応える革新的な製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、お客様の分析業務をサポートします。

ゼータ電位測定でCMPスラリーとウェーハの静電相互作用を評価

【特長】 ・希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位測定が可能 ・標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ・セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。分析機器事業では、新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を応用し、お客様のニーズに応じたソリューションを提供します。

希薄から濃厚溶液まで、インクの顔料分散を精密測定

【特長】 ・希薄から濃厚溶液(～40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ・標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ・静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、インク分野における品質向上をサポートします。

インクの発色を最適化する、使いやすさにこだわった粒径測定装置

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。分析機器事業では、新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を応用し、お客様の製品開発をサポートします。

電子材料の性能向上に貢献する、使いやすい粒径・粒度分布測定装置

【特長】 ・動的光散乱法を採用 ・最大5検体連続測定が可能 ・高速測定 ・コンパクトボディ(装置幅24cm) ・コンタミレス 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な新製品を提供しています。分析機器事業では、新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を応用し、粒子径測定装置を提供しています。

1ポイント1秒測定！材料の特性評価を加速する顕微分光膜厚計

【特長】 ・膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 ・顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ・1ポイント1秒以内の高速測定 ・顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ・エリアセンサーによる安全機構 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な新製品を提供しています。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、お客様のニーズに応える製品開発を行っています。

CMPスラリーの分散状態を制御し、研磨効率を向上。

【特長】 ・希薄から濃厚溶液（～40%）まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・Siウェーハなど平板状サンプルのゼータ電位測定が可能 ・標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ・セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、分析機器を提供しています。新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、半導体分野への展開を図ります。

ディスプレイ製造における膜厚測定の課題を解決！

【特長】 ・1.1kgと軽量で持ち運びが簡単 ・最薄0.1μmまで検量線不要で測定可能 ・基材を選ばず、非破壊で測定可能 ・測定結果のばらつきを抑制 ・測定精度が向上 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様の課題解決に貢献します。長年の経験と技術力で、お客様のニーズに合わせた製品を提供します。

nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。細胞観察を革新。

【特長】 ・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ・任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、画期的な新製品を作り出しています。創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開し、創薬分野における研究開発をサポートします。

nmオーダーの異物・欠陥を可視化！食品の安全性を向上。

【特長】 ・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ・任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術で、お客様の課題解決に貢献します。創業以来培ってきた技術を活かし、食品業界の品質管理をサポートします。

ラインスキャン方式で、コーティング膜厚を逃さず検査。

【特長】 * ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 * 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート * 高速・高精度に測定が可能 * バタつきに強い光学系を採用 * 幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様のニーズに応える製品を提供しています。創業以来培ってきた要素技術を融合させ、お客様の課題解決に貢献します。

ラインスキャン方式でフィルムの膜厚を均一に測定

【特長】 * ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 * 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート * 高速・高精度に測定が可能 * バタつきに強い光学系を採用 * 幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) 【当社の強み】 大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、お客様のニーズに応じた製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、お客様の課題解決に貢献します。