【材料科学向け】光波動場三次元顕微鏡 MINUK
nmオーダーの透明な異物・欠陥を評価。フィルム表面を可視化・定量化。
材料科学分野では、材料の構造評価において、微細な欠陥や異物の検出が製品の品質を左右する重要な要素となります。特に、透明フィルムなどの表面構造は、目視での検査が難しく、従来の測定方法では詳細な情報を得ることが困難でした。MINUKは、nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊で取得し、透明フィルム表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することで、材料の構造評価における課題を解決します。 【活用シーン】 * 透明フィルムの表面評価 * 微小な異物や欠陥の検出 * 材料の構造解析 【導入の効果】 * 非破壊検査によるサンプルへの影響を最小限に * 高速測定による効率的な検査 * 詳細な形状情報の取得による品質管理の向上
基本情報
【特長】 * nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 * 1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 * フォーカス不要で高速測定が可能 * 非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 * 任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 【当社の強み】 大塚電子は、独自の「光」技術を用いて、お客様の課題解決に貢献できる製品を提供しています。創業以来培ってきた技術を活かし、材料科学分野の発展に貢献します。
価格帯
納期
型番・ブランド名
MINUK
用途/実績例
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カタログ(1)
カタログをまとめてダウンロードこの製品に関するニュース(3)
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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ
当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
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【2026年9月30日(水)~10月2日(金)】「高機能フィルム開発・製造展」出展のお知らせ
大塚電子株式会社は、幕張メッセにて開催される 「高機能フィルム開発・製造展」に出展いたします。 当社ブースでは新製品「光波動場三次元顕微鏡 MINUK」をはじめ、 「ラインスキャン膜厚計」などフィルム関連のインライン検査装置、 研究開発用膜厚計、リタデーション測定装置の実機展示をいたします。 今年は「透明体の傷や異物を可視化・定量化できる事例」や 「抜けのない全面フィルム検査事例」などラボ評価から生産管理まで使える 具体的な資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
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JASIS2026へ出展します
2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
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取り扱い会社
大塚電子は、独自の「光」技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。






















