【電子材料向け】ELSZneoによるデバイス性能評価
希薄系から濃厚系まで、高精度な粒子径・ゼータ電位測定でデバイス性能を向上
電子材料業界では、デバイスの性能を左右する材料の品質管理が重要です。特に、微粒子の分散性や表面特性は、デバイスの動作特性に大きな影響を与えます。不適切な材料特性は、デバイスの歩留まり低下や性能劣化につながる可能性があります。ELSZneoは、希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲で粒子径・ゼータ電位を測定し、材料の品質評価をサポートします。 【活用シーン】 ・半導体製造におけるスラリーの評価 ・ディスプレイ材料の分散性評価 ・電池材料の電極特性評価 【導入の効果】 ・デバイスの品質向上 ・歩留まりの改善 ・製品開発期間の短縮
基本情報
【特長】 ・希薄から濃厚溶液(~40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ・多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ・平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ・静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ・動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 【当社の強み】 大塚電子は、独自の「光」技術を用いて、画期的な製品を提供しています。分析機器事業では、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用し、電子材料分野への展開を図ります。
価格帯
納期
型番・ブランド名
ELSZneo
用途/実績例
【用途】 ■新規機能性材料分野 ■セラミックス・色材工業分野 ■半導体分野 ■高分子・化学工業分野 ■医薬品・食品工業分野 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
カタログ(7)
カタログをまとめてダウンロードこの製品に関するニュース(3)
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【2026年12月9日(水)~11日(金)】「SEMICON Japan」出展のお知らせ
当社は、東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan」に出展いたします。 半導体製造プロセスからアプリケーションまでを網羅し、先進技術を体験できます。 大塚電子では、ラインスキャンのモックアップ、スマート膜厚計などを展示予定。 ぜひ当社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
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【2026年9月30日(水)~10月2日(金)】「高機能フィルム開発・製造展」出展のお知らせ
大塚電子株式会社は、幕張メッセにて開催される 「高機能フィルム開発・製造展」に出展いたします。 当社ブースでは新製品「光波動場三次元顕微鏡 MINUK」をはじめ、 「ラインスキャン膜厚計」などフィルム関連のインライン検査装置、 研究開発用膜厚計、リタデーション測定装置の実機展示をいたします。 今年は「透明体の傷や異物を可視化・定量化できる事例」や 「抜けのない全面フィルム検査事例」などラボ評価から生産管理まで使える 具体的な資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
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JASIS2026へ出展します
2026年9月2日(水)から4日(金)まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
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取り扱い会社
大塚電子は、独自の「光」技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。






