【解析事例】電子レンジの解析
誘電損失による誘電体の発熱密度分布の様子がわかります。加熱ムラや電磁波の反射、厚い食品の内部の加熱の解析ができます。
電子レンジの解析の節点数は2494で、要素数は1956です。 解析条件は、比誘電率：実部：空気1 誘電体40、虚部：空気0、誘電体-5、比透磁率：実部：空気1 誘電体1、虚部：空気0 誘電体0です。 詳しくはカタログをダウンロードしてください。
基本情報
【特長】 ○節点数：2494 ○要素数：1956 ○解析条件： →比誘電率：実部：空気1 誘電体40、虚部：空気0、誘電体-5 比透磁率：実部：空気1 誘電体1、虚部：空気0 誘電体0 ○境界条件：電子レンジの外周面に相当する面は対称境界として扱った。 ○入力条件：周波数：2.45 GHz。 →導入されるマイクロ波の電場は、入射位置に相当する各節点によって異なった値が入力され、 その値（電場ベクトルの実部のZ軸成分の値）は5×103 Vm-1から1.0×104 Vm-1まで分布。 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
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フォトンでは、電磁現象を利用した製品、部品などをコンピュータ上でモデル化し、 シミュレーションする「電磁場解析用ソフトウェア」を開発しています。 従来の設計や開発の現場においては技術者の方の経験に基づく試作と、試作品による実験をループにした試行錯誤が中心でした。 しかし、実際に試作品を使った実験を行いその結果を検討するには多大な時間とコストを要します。 今後は、実験・試作ベースから解析ベースの設計への移行が生産性向上において重要課題であり、解析ベースの設計技術の中核となるシミュレーション技術の確立が課題となります。 このような状況の下、フォトンでは、電磁場を中心に、熱、振動についての「解析ソフトウェア」を開発し提供させていただいております。フォトンのソフトを活用して頂くことで、各種工業製品の開発・設計を効率よく行うことが出来ます。このようにして、フォトンは、ユーザー様の製造現場において、試作の回数や開発費用の低減、開発期間の短縮を実現し、ひいてはユーザー様の競争力強化を支援していきたいと考えています。