高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内
X線CTやプラズマFIB、EBSD等でサンプルを高精度に観察するソリューション・サービスをご提供！
基本情報
【その他の特長】 ■プラズマFIB ・Xeを用い、高速かつ大面積の加工が可能 ・FE-SEM、EDSを搭載 ■EBSD ・高感度、低ノイズでの観察、わずか数分での高速動作が可能 ・測定生データのご提供可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■X線CT ・基板スルーホール、パターンの断線観察 ・はんだ部のボイドや、小型鋳造部品、ダイカスト製品の鋳巣等の観察 ■プラズマFIB ・断面加工、観察 ・端子錫めっき断面加工、観察 ・鉛フリーはんだ断面加工、観察 ■EBSD ・結晶粒の評価 ・配向性調査 ・塑性歪み評価 ・はんだの経時変化の調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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取り扱い会社
設立から今日まで、不良ゼロの実現を目指す現場の声に応えるために、信頼性試験・不良解析・再現実験と同時に、現場改善などの問題に取り組んでまいりました。 また、従来の基板や実装問題だけにとどまらず、現在では製品全般の品質保証、工場内部の検査工程や海外部品調達をはじめ、国内外の工場調査・工場改善までトータルにサポートしております。 私たちクオルテックが目指すのは、お客様にとって最良のビジネスパートナーになることです。
