【資料】半導体デバイスの電気的破壊試験と故障解析

IGBTに対してEOS破壊とESD破壊による故障再現実験を実施！解析手順などをご紹介

最終更新日 2025年04月25日

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長

パワーサイクル試験における半導体チップ温度測定にあたり、どのような方法を選択するかが重要！

最終更新日 2025年04月25日

超音波顕微鏡（原理と特長）のご紹介

超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意味します。波の性質を利用して指向性を高めることも可能です。

最終更新日 2025年04月25日

【分析】新しい半導体開封技術（Agワイヤ・パワーデバイス）

事例あり。車載向けパワーデバイス開発の活発化に伴い、デバイスの故障解析および良品解析の需要が増えております。

最終更新日 2025年04月25日

ロックイン発熱解析装置『ELITE』

「熱拡散によって発熱中心が分からなくなる」ことを防ぐ！微小なリーク・変化でも検出が可能

最終更新日 2025年04月25日

パワーサイクル試験機

ハイパワーIGBT高電流に対応！K-factorの自動測定が可能なパワーサイクル試験機

最終更新日 2025年04月25日

有機材料、発光素子、薄膜･半導体の測定分析装置

非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度計などを導入いたしました。

最終更新日 2025年04月25日

高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内

X線CTやプラズマFIB、EBSD等でサンプルを高精度に観察するソリューション・サービスをご提供！

最終更新日 2025年04月25日

ボイド率測定ソフトウェア『Qualap/VoidRoid』

AI画像解析により、はんだ接合部のボイド検査が短時間で可能に！

最終更新日 2025年04月25日

【資料】信頼性試験-接続信頼性とマイグレーション試験

接続信頼性試験法やマイグレーション試験などを、写真や図表を用いて詳しく解説！

最終更新日 2025年04月25日

はんだ接合部のクラックを3次元測定「QrackDroid3D」

非破壊のはんだクラック3次元測定手法！AI画像検査プラットフォームをご紹介

最終更新日 2025年04月25日

X線光電子分光法を用いた分析手法

絶縁物の測定が可能！金属・半導体・高分子等さまざまな材料の研究開発や不良解析に利用されています

最終更新日 2025年04月25日

パワーサイクル連続通電試験機　総合カタログ

試験のプロが考えた、設計開発者のためのカスタムメイドパワーサイクル試験について掲載！

最終更新日 2025年04月25日

サンプルを高精度に観察する先進のソリューション・サービス

サンプルを高精度に観察！ウェブ会議での対応も可能ですので、お問い合わせください

最終更新日 2025年04月25日

パワーサイクル受託試験のご案内

ご希望の条件に沿った形でパワーサイクル試験機をカスタマイズ！お求めのデータを提供

最終更新日 2025年04月25日

株式会社クオルテック　総合カタログ（ダイジェスト版）

クオルテック社の製品総合カタログです。

最終更新日 2025年04月25日

カスタムメイドパワーサイクル試験機

試験のプロが考えた設計開発者のためのカスタムメイドパワーサイクル試験機

最終更新日 2025年04月25日

【便覧のプレゼント】クオルテック技術便覧

総ページ数は750ページ！さまざまな事例等を図解や画像を交えて解説しています

最終更新日 2025年04月25日

フラットミリングとSEM観察

フラットミリングとSEM観察

最終更新日 2025年04月25日

パワーサイクル・過渡熱抵抗評価システム

車載用デバイスに好適！試験のスピードアップと正確なデバイス性能の比較を実現

最終更新日 2025年04月25日

【試験】高温での使用が予想される部品の高温せん断強度試験を実施

接合強度試験。チップ部品のはんだ強度や、ダイボンドチップの接合強度などを対象に評価します。350℃までの評価実績があります。

最終更新日 2025年04月25日

【塵埃試験（浮遊式）】JIS規格に準拠する自社開発設備です

塵埃環境が厳しい自動車のエンジンルームなど、活用環境に合わせた耐塵埃性を評価することを目的とした試験です。

最終更新日 2025年04月25日

CO2レーザ加工事例

コンフォーマル加工・ラージウィンドウ加工・Cuダイレクト加工など幅広く対応！

最終更新日 2025年04月25日

パワーサイクル試験（パワーモジュールの信頼性評価）

パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実施！

最終更新日 2025年04月25日

パワーサイクル試験：空冷システム

恒温槽を使用することで、より強い付加を加える事が可能！信頼性試験をご紹介

最終更新日 2025年04月25日

パルス通電パワーサイクル試験とその応用例

実動作に近い環境での試験および評価！突入電流およびサージ電圧に影響しない試験環境をご提供！

最終更新日 2025年04月25日

【故障解析事例】静電気破壊の再現実験

プラズマFIB装置を用いて断面を観察！広く破壊されている様子が確認された事例

最終更新日 2025年04月25日

ロックイン発熱解析装置『ELITE』

半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能！

最終更新日 2025年04月25日

株式会社クオルテック　株式上場のご挨拶

2023年7月28日、東京証券取引所グロース市場(証券コード：9165)に上場いたしました

最終更新日 2025年04月25日

【故障解析事例】アバランシェ破壊の再現実験

内部に空洞が形成！Al電極、はんだを溶かした様子が確認できた事例をご紹介

最終更新日 2025年04月25日