家電製品
家電製品
テレビなどの民生用電子機器や、冷蔵庫・エアコンなどの民生用電気機器は、製造業のグローバル化により競争が激化しています。弊社ではお客さまが開発される製品に対し、品質に関する情報を収集し、高品質かつ高信頼性を実現できる改善提案をしております。豊富な現場改善の経験と高度な専門技術に基づき、試験の実施から分析試料の作製、不良解析、新規技術の研究開発までトータル・クオリティ・ソリューションを実施しています。
1～30 件を表示 ／ 全 111 件
-
【分析】新しい半導体開封技術（Agワイヤ・パワーデバイス）
事例あり。車載向けパワーデバイス開発の活発化に伴い、デバイスの故障解析および良品解析の需要が増えております。
最終更新日
-
ドライ断面加工（乾式断面加工）
断面イオンミリング装置を用いることで、樹脂に埋めず、水を使用しない断面試料の作製が可能！
最終更新日
-
ロックイン発熱解析装置『ELITE』
「熱拡散によって発熱中心が分からなくなる」ことを防ぐ！微小なリーク・変化でも検出が可能
最終更新日
-
オスミウムコータ設備の紹介とその観察例
試料の上面、側面などや、複雑な試料にも奥深く均一にコーティング可能！
最終更新日
-
超音波顕微鏡『Gen6』
異なる複数の層の深さを同時スキャン可能！水温度コントロールユニット内蔵
最終更新日
-
クライオCP装置による毛髪の断面加工
熱に弱い物質や熱変成が考えられる物質の断面試料作成が可能！
最終更新日
-
真空リフロー装置
高温・真空・加圧ギ酸還元対応！最大650℃までの処理が可能な真空リフロー装置
最終更新日
-
有機材料、発光素子、薄膜･半導体の測定分析装置
非接触・非破壊・顕微で測定時間1秒の顕微反射分光膜厚計や、分光蛍光光度計などを導入いたしました。
最終更新日
-
断面試料作製装置『IB-19510CP』
高速＆仕上げ加工の搭載により高スループットと高い断面品質を実現！
最終更新日
-
高性能解析装置によるソリューション・サービスのご案内
X線CTやプラズマFIB、EBSD等でサンプルを高精度に観察するソリューション・サービスをご提供！
最終更新日
-
【事例紹介】質量分析計前処理を用いた定性分析、定量分析
オートサンプラを用いるため、分析試料量の再現性が高く、精度の良い定量分析も可能！
最終更新日
-
プリント基板の各種評価
プリント基板の品質の確認、検証に。
最終更新日
-
【資料】半導体デバイスの電気的破壊試験と故障解析
IGBTに対してEOS破壊とESD破壊による故障再現実験を実施！解析手順などをご紹介
最終更新日
-
【資料】信頼性試験-接続信頼性とマイグレーション試験
接続信頼性試験法やマイグレーション試験などを、写真や図表を用いて詳しく解説！
最終更新日
-
高電圧，高温下で発生するエレクトロケミカルマイグレーション
高電圧下で発生するエレクトロケミカルマイグレーションの対策についても検討を続けています！
最終更新日
-
【資料】高温動作環境下におけるはんだ付け部の信頼性
高温化による接合部の信頼性を、評価方法，対策，開発の面から考え提案！
最終更新日
-
固体電解質に適した交流インピーダンス測定治具と測定システムの開発
2台のインピーダンスアナライザ、切替装置を一括制御できるインピーダンス測定システムを開発！
最終更新日
-
【資料】エレクトロマイグレーション
金属配線を流れる電流密度が上がると金属原子が電子の流れる方向に輸送される現象についてご紹介！
最終更新日
-
ロール・ツー・ロール 自動巻き出し&巻き取り機
誰にでも簡単な操作性！巻きズレを自動で修正する自動巻き出し&巻き取り機のご紹介
最終更新日
-
ウィスカ・マイグレーション検査／プリント基板の品質評価
開発スピードアップに貢献！各種分析装置も取り揃えております！
最終更新日
-
断面研磨の作製
断面研磨の作製
最終更新日
-
X線光電子分光法を用いた分析手法
絶縁物の測定が可能！金属・半導体・高分子等さまざまな材料の研究開発や不良解析に利用されています
最終更新日
-
サンプルを高精度に観察する先進のソリューション・サービス
サンプルを高精度に観察！ウェブ会議での対応も可能ですので、お問い合わせください
最終更新日
-
株式会社クオルテック 総合カタログ（ダイジェスト版）
クオルテック社の製品総合カタログです。
最終更新日
-
BCAの断面解析とX線透過観察
BCAの断面解析とX線透過観察
最終更新日
-
ハイパワーX線CT『CT Compact』
高さ82cm、重さ50kgまでのサンプルが鮮明に撮影できる、ハイパワーX線CT
最終更新日
-
【便覧のプレゼント】クオルテック技術便覧
総ページ数は750ページ！さまざまな事例等を図解や画像を交えて解説しています
最終更新日
-
【問題発生事例】信頼性試験におけるはんだクラック発生
「信頼性試験中にはんだクラックが発生、早急な脆弱箇所の特定をしたい」といった問題に！
最終更新日
-
【課題事例】パワー半導体の故障部位が深い / 分析・故障解析
3つのカタログと動画も掲載。「パワー半導体の故障部位が深くて観察しづらい」といった問題に！故障原因の解析もお任せください。
最終更新日
-
フラットミリングとSEM観察
フラットミリングとSEM観察
最終更新日
