パワーサイクル試験前後の観察事例(社内実験)
トータルクオリティソリューションのご提案！お客様の課題解決に向けて、試験結果に基づく原因特定、改善提案をトータルでサポートします
市販のIGBT(TO-247パッケージ)を用いショートタイム及びロングタイム パワーサイクル試験を実施した事例をご紹介いたします。 ショートタイムパワーサイクル試験ではワイヤー自体の破断が優先的に発生。 ロングタイムパワーサイクル試験ではダイボンド部の破壊(クラック)が 優先的に発生。また、ワイヤーのボンディング部にクラックが観察されました。 試験条件の違いにより破壊モードが異なるためパワーサイクル試験を実施する際は、 試験条件を慎重に決定する必要があるということがわかりました。 【事例概要】 ■試験内容 ・ショートタイムパワーサイクル試験 ・ロングタイムパワーサイクル試験 ■結果 ・ワイヤー自体の破断が優先的に発生(ショートタイム) ・ダイボンド部の破壊(クラック)が優先的に発生(ロングタイム) ・ワイヤーのボンディング部にクラック(ロングタイム) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【試験内容】 ■ショートタイムパワーサイクル試験 ・通電ON数秒、OFF数秒の短時間で発熱と冷却をおこない、チップ近傍に負荷を 与える試験(ワイヤー部及びダイボンド部) ■ロングタイムパワーサイクル試験 ・通電ON数分、OFF数分の長時間で発熱と冷却をおこない、ケースと絶縁基板付近に 負荷を与える試験(今回はTO-247パッケージのためダイボンドの劣化有無を確認) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
おすすめ製品
取り扱い会社
設立から今日まで、不良ゼロの実現を目指す現場の声に応えるために、信頼性試験・不良解析・再現実験と同時に、現場改善などの問題に取り組んでまいりました。 また、従来の基板や実装問題だけにとどまらず、現在では製品全般の品質保証、工場内部の検査工程や海外部品調達をはじめ、国内外の工場調査・工場改善までトータルにサポートしております。 私たちクオルテックが目指すのは、お客様にとって最良のビジネスパートナーになることです。