空冷パワーサイクル試験
20個分のサンプルの同時試験が可能となるIOL試験についてご紹介！
当社で承る『空冷パワーサイクル試験』について、ご紹介いたします。 小型ディスクリート半導体を対象とした空冷パワーサイクル試験、 IOL試験専用試験設備を設置し、試験を受託。サンプル20個分の 同時試験が可能です。試験サンプル数は40個まで拡張予定です。 当社では、パワーサイクル試験についての多くのノウハウを活用し、 お客様のご要望に沿った試験機構の構築及び新規機構の提案が可能です。 【試験概要(一部)】 ■試験サンプル：ディスクリート半導体 ■オン時間、オフ時間：2分から5分、オフ時はファンによる強制空冷 ■△Tj：25℃⇔125℃、または25℃⇔150℃ ■試験サイクル数：10,000サイクル(1サイクル6分、△Tj100℃の場合) ■試験電流：電流一定モード、または電流自動調整モード ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【その他の試験概要】 ■Tj測定方法：通電オフ後、ダイオードのVf(If＝10mA)からTjmaxを推定 ■Tc測定：熱電対とデータロガーによる(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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設立から今日まで、不良ゼロの実現を目指す現場の声に応えるために、信頼性試験・不良解析・再現実験と同時に、現場改善などの問題に取り組んでまいりました。 また、従来の基板や実装問題だけにとどまらず、現在では製品全般の品質保証、工場内部の検査工程や海外部品調達をはじめ、国内外の工場調査・工場改善までトータルにサポートしております。 私たちクオルテックが目指すのは、お客様にとって最良のビジネスパートナーになることです。