【半導体製造向け】AI外観検査ソリューション
ウェハー検査の課題をAIで解決 短期間・高精度な外観検査を実現
半導体製造業界、特にウェハー検査においては、微細な欠陥や異物の検出精度が製品の品質に直結します。 限られた不良データから高精度な検査AIを短期間で構築することは、検査工程の効率化と品質向上において重要な課題です。 AI外観検査ソリューションは、疑似不良画像を生成することで、少量の不良品データからでも高精度な外観検査AIモデルを生成します。 これにより、不良品画像の収集にかかる時間と労力を大幅に削減し、迅速な外観検査システムの構築を支援します。 【活用シーン】 ・ウェハー上の微細なキズ、汚れ、異物検出 ・位置ずれや形状のばらつきの検出 ・検査工程の自動化と効率化 【導入の効果】 ・検査精度の向上と不良品の流出防止 ・検査工数の削減とコストダウン ・短期間でのAI検査システム導入
基本情報
【特長】 ・疑似不良画像生成機能により、少量の不良データからAIモデルを構築可能 ・AlliomVisionで生成した疑似画像は、様々なAI開発環境で使用可能（オプション機能） ・カメラからの画像取得、AIモデルによる検査、結果表示・保存を行う専用ソフトウェアを提供 ・ディープラーニングを活用し、形や位置が定まらない不良も検出 ・短期間で高精度な外観検査AIモデルを生成 【当社の強み】 当社は、製紙、自動車、半導体など、多岐にわたる業界でシステムインテグレーションの提案を行ってまいりました。 半導体分野における豊富な実績とノウハウを活かし、お客様のニーズに最適なソリューションをオーダーメイドでご提供します。 自動化システムの総合メーカーとして、お客様の生産性向上と品質向上に貢献いたします。
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