精密電子計測
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光チップテスト
パワー半導体テスト
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LD(レーザーダイオード)COC検査装置
検査治具はバーンインシステムと共用!検査直行率と検査安定性が大幅アップ
最終更新日 2023年07月31日
『LD(レーザーダイオード)COCバーンイン装置』
生産効率大幅アップ!治具ごとに自由にバーンイン条件を設定でき、研究開発にも便利
最終更新日 2025年02月12日