ICのリード浮き、BGAのボール浮きを電気的に検出しませんか？
TAKAYA独自のICオープンテストシステム
※詳細機能はカタログにてご覧いただけます※ TAKAYAのフライングプローブテスタには、独自開発のセンサプローブを用いて、 BGA, QFP, SOJなどのICリード浮き不良、ハンダ不良を高速検出するシステムを搭載できます。 IC本体にダメージを与えることなく、狭ピッチICのリード浮き不良や、BGAのボール浮き不良を電気的に検出が可能です。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※
基本情報
タカヤは、日本を代表するフライングプローブテスタのメーカーとして、世界各国で高い評価をいただいています。その活躍の場は、家電業界だけではなく、高い品質基準を求められる医療機器業界や自動車業界、また参入障壁の非常に高い航空・宇宙産業など幅広い分野にわたっております。
価格帯
納期
用途／実績例
【採用業界】 EMS,EMDS企業 半導体製造装置関係 通信インフラ・サーバー 車載・航空機・船舶 医療機器 産業機械、ロボット FA工作機械 発電、電力システム
