2025年12月より新製品「APT-T400J シリーズ」フライングプローブテスタの販売を開始いたしました。 本製品は、治具レスで多品種対応可能な基板電気検査装置として、従来の高精度プロービング技術と安定した測定性能を継承しながら、 【 より導入しやすい価格帯を実現したスタンダードモデル 】です。 電子機器の高密度化・多機能化に対応し、製造現場の課題である人手不足・コスト削減にも貢献します。 <APT-T400J 特長> 導入しやすい価格：コストを抑えた設計で、初めての導入や買い替えにも最適 高密度基板対応　：独自の6プローブ構成で狭い部品間や上向きコネクタにも確実にアクセス 微小不良も検知　：全ヘッドに測定ユニットを搭載、インピーダンスやキャパシタンスを測定 高速安定検査　　：最適化された移動機構とサーボ制御でスピードと信頼性を両立 外観検査　　　　：高精細カメラで部品の有無や極性を確認し、バーコード連携でデータ管理 簡単セットアップ：独自開発の検査プログラム作成支援ソフトにより、ODB++や各社CADデータ、マウントデータから検査プログラムを自動生成可能

タカヤ株式会社は、2025年11月にドイツ・ミュンヘンで開催される 世界最大級の電子機器製造展示会「Productronica 2025」に出展いたします。 本展示では、伊藤忠商事株式会社 および SYSTECH Europe GmbHのブースにて、 フライングプローブテスタの最新モデルをご紹介いたします。 欧州をはじめ、世界中の皆様にタカヤの高精度・高速検査技術をご体感いただける絶好の機会です。 ご来場の際はぜひ弊社ブースへお立ち寄りください。

このたび、株式会社リンクス様が主催する技術イベント 「LINX DAYS 2025」 において、タカヤ株式会社の取り組みが ユーザー事例の一つとして紹介されることとなりました。 「LINX DAYS」は、マシンビジョン・産業用カメラ・3Dセンサー・ロボティクス・AIなど、製造業の高度化・自動化を支える最先端技術をテーマに、国内外の先進企業による講演や事例紹介が行われる技術イベントです。製造業に携わる多くの技術者・開発者・経営層の皆様が参加され、業界の最新動向や実践的なソリューションに触れる貴重な機会となっております。 今回、「HALCON導入による超高速フライングプローブテスタの付加価値向上」をテーマに、画像処理ライブラリ「HALCON」の活用によって、弊社のフライングプローブテスタがどのように進化し、検査工程のさらなる高精度化・高速化を実現したか について取り上げていただく予定です。 製造現場における品質向上や検査自動化に取り組まれている皆様にとって、有益な情報となれば幸いです。

このたび、月刊誌『検査技術』（日本工業出版）2025年10月号に、当社の最新技術に関する論文が掲載されました。 掲載記事： 『新技術を搭載したフライング式インサーキットテスタの最新動向』 著者：タカヤ株式会社 産業機器事業部 柳田 幸輝 本稿では、高速・高密度化が進むプリント回路板に対応するための最新フライングプローブテスタの技術革新、JTAG連携やZEROインパクト技術の導入事例について解説しています。

当社論文を 一般社団法人エレクトロニクス実装学会（以下、「JIEP」）発行「エレクトロニクス実装学会誌」Vol.28 No.6（2025年9月号）に掲載頂きました。 掲載論文 「超高速フライング式プリント回路板検査機の開発」 （英題：Development of an Ultra-High-Speed Flying Probe Tester for PCB Assembly Inspection） 著者：柳田 幸輝 論文概要 本論文では、従来の治具式インサーキットテストの課題である高コスト・微細部品へのアクセス困難を解決するために開発した 超高速フライングプローブテスタの新技術について報告し、次世代の高密度実装基板検査における新たな基準を提案しています。