フライングプローブテスタ APT-T400J
【新製品情報】高速・高精度・低コストを実現する新世代フライングプローブテスタ「APT-T400Jシリーズ」登場！
タカヤ株式会社は、実装基板の様々な不良を確実に検出する超高速検査を可能にする新モデル「APT-T400Jシリーズ」を発表しました。 本製品は、治具レスで多品種対応可能な基板電気検査装置として、従来の高精度プロービング技術と安定した測定性能を継承しながら、より導入しやすい価格帯を実現したスタンダードモデルです。 特長： 治具レスで多品種対応 高精度プロービング技術を継承 導入しやすい価格帯 人手不足・コスト削減に貢献 電子機器の高密度化・多機能化に対応し、製造現場の課題である人手不足・コスト削減にも貢献します。
基本情報
本製品は、治具レスで多品種対応可能な基板電気検査装置として、従来の高精度プロービング技術と安定した測定性能を継承しながら、【 より導入しやすい価格帯を実現したスタンダードモデル 】です。 電子機器の高密度化・多機能化に対応し、製造現場の課題である人手不足・コスト削減にも貢献します。 <APT-T400J 特長> 導入しやすい価格：コストを抑えた設計で、初めての導入や買い替えにも最適 高密度基板対応 ：独自の6プローブ構成で狭い部品間や上向きコネクタにも確実にアクセス 微小不良も検知 ：全ヘッドに測定ユニットを搭載、インピーダンスやキャパシタンスを測定 高速安定検査 ：最適化された移動機構とサーボ制御でスピードと信頼性を両立 外観検査 ：高精細カメラで部品の有無や極性を確認し、バーコード連携でデータ管理 簡単セットアップ：独自開発の検査プログラム作成支援ソフトにより、ODB++や各社CADデータ、マウントデータから検査プログラムを自動生成可能 ▶ 詳しくは製品カタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格情報
✅ 展示会情報 インターネプコン2026 出展決定！APT-T400Jを国内初出展！ 開催日：2026年1月21日（水）～23日（金） 会場：東京ビッグサイト 東５ホール【E14-8】 ご来場の際はぜひ当社ブースにお立ち寄りください。
納期
型番・ブランド名
APT-T400J
用途／実績例
-フライングプローブテスタとしての実績- [半導体製造装置] ・高密度実装基板の検査 [EMS企業] ・基板試作段階からの電気検査 [通信インフラ・サーバー] ・品質要求の厳しい製品向け基板の検査 [医療機器] ・インラインによる全数検査（3D_AOI(外観検査)との併用） [発電・電力システム] ・ディスクリート部品に限定した実装確認 [コンシューマー製品] ・量産型高密度実装基板の機種切換え工程 マウンタのプログラム確認用チップ定数検査 [自動車] ・不良解析 [航空宇宙・防衛] ・少量生産基板の検査 [ライティング-LED照明-] ・目視検査→自動検査への置き換え
関連動画
ラインアップ（2）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| APT-T400J | オフラインモデル 上面４軸 |
| APT-T400J-A | インラインモデル 上面４軸 |
