マルチプローブ × 治具レスJTAGバウンダリスキャンテスト
フライングプローブ×マルチプローブで実現する、治具不要のJTAGテスト体験
NEPCON JAPAN 2026(東京ビッグサイト)で展示した、タカヤのフライングプローブテスタによる治具レスJTAGバウンダリスキャンテストのデモ映像です。 本デモでは、オプションのマルチプローブシステムを活用し、JTAG信号への安定したアクセスとスムーズなテスト実行を実現しています。 展示会ブースで実際に動作していたデモをそのまま収録しており、プロービング動作やバウンダリスキャン実行の流れをご覧いただけます。
基本情報
価格帯
納期
型番・ブランド名
TAKAYA APT-2600FD
用途/実績例































