IC外観検査サービス

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デジタル計測と統計処理による自動計測判定により検査を実施しております。 半導体メーカーの外形寸法図面に基づき10マイクロメートルの精度で検査しており、最小約20マイクロメートル幅の異物が検出可能です。
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デジタル計測と統計処理による自動計測判定により検査を実施しております。 半導体メーカーの外形寸法図面に基づき10マイクロメートルの精度で検査しており、最小約20マイクロメートル幅の異物が検出可能です。
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