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SEMI F47 試験

株式会社UL Japan

SEMI F47（Voltage Sag Immunity）試験とは、半導体および関連業界のメンバーから構成される国際半導体製造装置材料協会（SEMI）が策定する半導体プロセス装置向けの規格の一つです。半導体工場内においてAC供給電源が突然の電圧低下を起こした状態を模擬し、その場合の被試験装置の耐性を評価する試験です。 SEMI：Semiconductor Equipment and Materials Institute Voltage Sag Immunity：電圧瞬時降下イミュニティ 弊社では、半導体プロセス装置向けのSEMI F47 (Voltage Sag Immunity) 試験サービスを提供しております。 詳細・お見積りは下記「関連リンク」よりご確認下さい。