第54回 信頼性・保全性・安全性シンポジウム | ポゴピンの短寿命化の事例紹介

ユーロフィンFQL株式会社
第54回 信頼性・保全性・安全性シンポジウムに出展いたします。 ■内容 ポゴピンの内部に発生した腐食(脱亜鉛腐食)要因により、接触不良に至った市場障害にフォーカスして、短寿命となりうる要因を導いた事例について発表します。また、FTAで抽出した4つの着目点(腐食性物質、温度/湿度、傷(摺動)、ピンホール)で新たなサンプルに対して検証を行った結果、ギ酸イオンと硫酸イオンが添加された状態且つ傷(摺動)が有るパターンの方がより腐食が促進されました。検証結果から得られた接触不良メカニズムを推定します。

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開催日時 2025年07月17日(木)
14:00 ~ 14:30
A会場 Session1『信頼性試験』 - 会場 一般財団法人日本科学技術連盟 https://www.juse.jp/rms/ (外部サイト)
- 参加費 有料 詳細はお申込URLをご参照ください