海外製 液晶ディスプレイの良品解析

不具合が出れば詳細解析も！海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

最終更新日 2025年06月26日

酸化物系全固体電池の故障解析事例

高い安全性を持ち、様々な環境下で使用できる！一貫した解析が可能です

最終更新日 2025年06月26日

スイッチ接点不良の解析事例

外観確認、電気的な確認、X線での内部観察を実施！解析事例のご紹介

最終更新日 2025年06月26日

FPD 評価・検証

特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価！信頼性試験手法・条件をご提案

最終更新日 2025年06月26日

COG実装の導電粒⼦形状観察

平面方向と断面方向から導電粒子の様子を観察！変形具合を確認した事例

最終更新日 2025年06月26日

パワーデバイス故障箇所・Slice＆View 三次元再構築

故障箇所の三次元像を再構築する事により、破壊された構造の全貌を観察！

最終更新日 2025年06月26日

SiC 潜在欠陥拡張検査装置

UVレーザー照射によりバイポーラ劣化を再現！通常2か月かかるサンプル評価を、2日で代替可能です

最終更新日 2025年06月26日

Talos F200E導入のお知らせ

TEM・STEMの分解能が向上！4本の検出器でEDS分析が可能になるなど性能が大幅に強化

最終更新日 2026年03月27日

信頼性試験によるスペック確認と故障解析

独自の前処理加工技術により様々な状態のサンプルに対して解析を実施可能！

最終更新日 2025年07月04日

チップ抵抗の故障解析例

機械研磨、SEM、EDXによる加工、観察手法をご紹介いたします！

最終更新日 2025年08月08日

SiCにおけるPL発光箇所のTEM観察

PLによる欠陥箇所特定・全体像把握から、TEMによる欠陥部の詳細な観察が可能！

最終更新日 2026年04月15日