不良・物理解析
不良・物理解析
アイテスでは、分析解析・信頼性評価サービスを行っております。
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品質技術トータルソリューション
製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組に対し、技術と経験を基に迅速で的確な解決策を提供。
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ICの不良解析
不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応
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sMIMによる半導体拡散層の解析
濃度の変化をCの変化として検出！dC／dV信号も取得でき、拡散層の解析に有効です
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パワーデバイスの故障解析
ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・観察を行います。
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TEMによる電子部品・材料の解析
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
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クロスビームFIBによる断面観察
FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
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パワーデバイスのトータルソリューションサービス
パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します
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LEDのトータルサポートサービス
LEDをあらゆる角度から徹底評価、検証します
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【資料】太陽電池の不具合と解析事例
様々なアプローチにより不具合解析・分析を行った事例を掲載しています！
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電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します！
過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装置で、熟練の技術集団がパワーデバイスを徹底評価・解析！
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短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析
Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります！
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静電破壊した橙色LEDの不良解析
良品と静電気（ESD）破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光解析事例をご紹介します！
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SiCデバイスの裏面発光解析
SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対応！
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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察
SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です！
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LCDパネル良品解析
LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法と知見で解析致します！
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EELS分析手法による膜質評価
元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！
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EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み
「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します
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FIB-SEMによる半導体の拡散層観察
他手法より短納期！FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施できます！
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パワー半導体の解析サービス
故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします！
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液晶パネルの不良解析
点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます！
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LEDの故障解析
高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用！不点灯や輝度劣化の原因を調査
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発光解析のための半導体の裏面研磨
様々な形態の半導体で裏面研磨が可能！素子、不具合の様子の観察が出来ます
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『化学分析の流れ』
製品・素材の機能や特性、状態を解明。分析対象・目的に応じた分析手法をご提案
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発熱解析による電子部品の故障箇所特定
故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇所の特定ができます
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電解コンデンサのX線観察
正常品と劣化品について外観確認やX線CTによる内部観察を行いました！
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積層基板の斜めCT観察
積層基板では各層毎の情報を得ることが可能！測長ツールを用いることで長さを測定できます
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液晶パネルのTFT特性評価
性能確認のための良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来ます！
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【資料集】LCDパネル解析資料集
LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをします！
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FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ
ソフトマテリアルの断面作製も実現！Auto Slice＆Viewで3D再構築も可能です！
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海外製ディスプレイの不良解析
不良解析の実績多数！現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な解析が可能
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