株式会社アイテス 公式サイト

品質技術トータルソリューション

製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組に対し、技術と経験を基に迅速で的確な解決策を提供。

●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス  電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティングまで、製品ライフサイクル全体にわたりご支援します。 ●信頼性試験の結果を速やかに解析、速報  信頼性試験での不良に対し、豊富で効率的な解析メニューにより的確でタイムリーな原因特定、考察をご支援します。 ●必要なサービスを必要なだけご利用ください  決められた評価計画に基づく試験・検査実施から、問題解決のための評価・解析計画立案、結果解析、原因究明とコンサルテーションまで、必要にあわせて自由にご選択頂けます。

分析解析・信頼性評価サービス

基本情報

電子部品の企画・設計・開発段階から、量産、出荷後に至るまで、あらゆるフェーズで発生する品質問題に、長く培われた技術と経験をもとにスピーディーで的確なソリューションを提供します。

価格情報

ご依頼の内容により都度御見積致します。

納期

詳細はお問い合わせください

ご依頼の内容により異なります(特急対応あり)

用途/実績例

製品認証 信頼性試験 故障解析 材料評価 *速やかな結果報告

ラッチアップ試験受託サービス

製品カタログ

TEMによる電子部品・材料の解析

製品カタログ

クロスビームFIBによる断面観察

製品カタログ

海外製部品・製品評価サービス

製品カタログ

イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析

製品カタログ

微小異物分析のためのサンプリング技術

製品カタログ

FPDのトータルソリューションサービス

製品カタログ

In-Situ 常時測定信頼性評価試験サービス

製品カタログ

品質技術トータルソリューション

製品カタログ

半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

製品カタログ

液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション

製品カタログ

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

製品カタログ

LEDのトータルサポートサービス

製品カタログ

【資料】ヘッドスペースGC-MS分析法によるアウトガス分析

その他資料

素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評価

技術資料・事例集

【資料】自記分光光度計による透過率測定サービス

その他資料

【資料】EGA-MS分析、熱脱着・熱分解GC-MS分析によるPTP梱包シート分析

その他資料

【資料】信頼性試験、曇価(ヘーズ)測定、IR分析のセットメニューサービス

その他資料

【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価

その他資料

【資料】ICP発光分光分析(ICP-AES)

その他資料

【資料】SEG-LCDパネル表示不良解析

その他資料

メルトフローレイト(MFR)測定評価サービス

技術資料・事例集

【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します

技術資料・事例集

【資料】XPS(ESCA)による変色変質素材の表面分析

その他資料

【資料】ビニルポリマー(樹脂材料)のIR分析

製品カタログ

【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します

その他資料

【資料】有機材料、高分子材料の分析評価

その他資料

積層セラミックコンデンサ連続通電試験

その他資料

取り扱い会社

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

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