株式会社アイテス 公式サイト

電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します!

過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装置で、熟練の技術集団がパワーデバイスを徹底評価・解析!

アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード:■パワー半導体全般(チップ、モジュールTIM素材など)■信頼性試験/評価 ■構造解析(出来栄え・他社品RE)■故障解析(故障箇所特定、原因究明、改善提案) 【試験一覧】 ■パワーサイクル試験 ■液槽熱衝撃試験 ■ゲートバイアス試験 ■半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察 ■パワーチップの故障解析 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://www.ites.co.jp

基本情報

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価格帯

納期

用途/実績例

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X線透視・CT検査装置『Cheetah EVO』

製品カタログ

sMIMによる半導体拡散層の解析

製品カタログ

【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します

その他資料

信頼性のトータルサポートサービス

その他資料

素材の信頼性試験、および試験後の化学分析評価

技術資料・事例集

【資料】自記分光光度計による透過率測定サービス

その他資料

【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します

技術資料・事例集

【資料】XPS(ESCA)による変色変質素材の表面分析

その他資料

【資料】ビニルポリマー(樹脂材料)のIR分析

製品カタログ

クロスビームFIBによる断面観察

製品カタログ

メルトフローレイト(MFR)測定評価サービス

技術資料・事例集

TEMによる電子部品・材料の解析

製品カタログ

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

製品カタログ

3D形状測定機(VR-6200)による基板変形観察

その他資料

この製品に関するニュース(3)

取り扱い会社

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

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