アイテス　装置一覧

アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む解決提案型企業です。各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析　形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験　信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析　物理解析・表面分析・化学分析

装置一覧

基本情報

■形態観察　・レーザー顕微鏡　・SAM/SAT 　・X線透視装置　・SEM/FE-SEM ■電気特性測定　・カーブトレーサ　・パワーデバイスアナライザ ■不良解析・故障解析　・EMS/IR-OBIRCH 　・EBIC ■試料加工　・FIB 　・回転式研磨台　・イオンポリッシャー　・斜め切削装置 ■信頼性評価試験　・液槽式/気槽式　冷熱衝撃試験装置　・恒温恒湿器/バイアス試験　・恒温槽　・HAST/PCT/PCBT 　・In-Situ常時測定装置 ■ESD/ラッチアップ試験　・ESDテスタ（HBM/MM/CDM/ラッチアップ） ■光学特性　・全光束・光強度測定システム ■物理解析　・SEM+EDX/EPMA 　・FE-TEM+EDS/EELS 　・STEM+EDS ■表面分析　・AES 　・XPS 　・μFT-IR 　・AFM ■化学分析　・GC-MS（HS/熱分解）　・LC-MS 　・顕微ラマン分光装置

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用途／実績例

電子部品の解析・評価　受託サービス ■物理解析/表⾯分析/化学分析 ■製品解析/不良解析/故障解析 ■信頼性試験/ESD/ラッチアップ試験/特性評価

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この製品に関するニュース（1）

パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）
- 製品ニュース
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を不良判定時に遮断することができます。【仕様・サービス内容】 ■試験電圧：最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流：最大14mA ■試験数量：最大8個（電源独立） ■対応モジュール：TO-247､TO-220 等（その他のパッケージは接続方法など要相談） ■測定内容：リーク電流のモニタリング ■温度範囲：最大200℃（高温高湿の場合85℃/85％）

2023年04月10日

ニュース一覧 (89)

取り扱い会社

株式会社アイテス

特設サイト公式サイト

電話番号・住所

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として１９９３年に設立されました。日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

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