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信頼性保証サービスのご紹介

JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価試験を承ります。

■高度加速寿命試験 5台 ■冷熱衝撃試験 24台 ■恒温恒湿試験 22台 ■液槽冷熱衝撃試験 3台 ■高温保存試験 ■耐ホットオイル評価試験 ■絶縁抵抗連続モニター評価 ■導通抵抗連続モニター評価 ■エレクトロマイグレーション連続モニター評価 ■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面(研磨)観察サービス(環境試験前後の評価も可能です) ■太陽電池(結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜など)EL発光現象 ■発熱観察

信頼性試験/環境試験

基本情報

■高度加速寿命試験  内寸(最大) Φ545×L550mm  温湿度範囲 +105~162.2℃/75~100%RH ■冷熱衝撃試験  内寸(最大) W970×H460×D670mm  温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~200℃ ■恒温恒湿試験  内寸(最大) W1000×H1000×D720mm  温湿度範囲 -70℃~+150℃/20~98%RH ■液槽冷熱衝撃試験  試料カゴ(最大) W320×H240×D320mm  耐荷重(最大) 10kg  温度範囲 -65℃~0℃/+60℃~150℃

価格情報

試験条件により御見積致します。

納期

詳細はお問い合わせください

試験条件と連動致します。

用途/実績例

JIS・JEDEC・MIL等の規格試験 打合せによりご指定条件での試験 各種In-Situモニター連動試験

ラッチアップ試験受託サービス

製品カタログ

FPDのトータルソリューションサービス

製品カタログ

海外製部品・製品評価サービス

製品カタログ

LEDのトータルサポートサービス

製品カタログ

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

製品カタログ

液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション

製品カタログ

半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

製品カタログ

品質技術トータルソリューション

製品カタログ

In-Situ 常時測定信頼性評価試験サービス

製品カタログ

【資料】超微小硬度計による負荷除荷モード&カラーフィルター測定例

その他資料

信頼性試験から観察までトータルコーディネート

製品カタログ

ランプ加熱試験(赤外線照射試験)

その他資料

【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価

その他資料

メルトフローレイト(MFR)測定評価サービス

技術資料・事例集

【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します

技術資料・事例集

【資料】XPS(ESCA)による変色変質素材の表面分析

その他資料

ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験

製品カタログ

積層セラミックコンデンサ連続通電試験

その他資料

取り扱い会社

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

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