ESD（CDM）試験受託サービス
デバイス帯電モデル（Charged Device Model）のESDに対する耐性を評価する試験サービスを提供いたします。
基本情報
■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ ■最大 1024ピン まで対応します。 ■プローブ移動精度：0.1mm ■印加ユニット：JEDEC（JESD22-C101F）、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ法 FI-CDM：電界誘導法（JEDEC・AEC） D-CDM：直接チャージ法（JEITA・EIAJ・AEC） ☆車載向け電子部品規格：AEC-Q100-011の試験サービスを開始 AEC規格のField Induced CDM（FI-CDM）試験対応が可能です。 AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。
価格情報
試験条件により御見積致します。
納期
用途／実績例
JEDEC JEITA EIAJ AEC 各種規格試験
