液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション
海外製液晶ディスプレイの信頼性に問題を抱えるお客様のために、信頼性試験から故障解析、材料分析までトータルで支援します。
基本情報
■LCD製品の信頼性試験 豊富な試験メニュー 試験前後の目視検査 によりお客様の負担を軽減 ■LCD製品の不具合解析 故障モード、関連領域、分析・解析対象、主な手法を独自で関連付け 迅速・的確な解析を実現します
価格情報
ご依頼内容により御見積致します。
納期
用途／実績例
・TFT特性、TFT構造、TFT異物 ・ドライバーIC接続部、配線腐食、表面汚染 ・微小異物、液晶汚染、配向膜汚染 ・LED故障、PCB故障、偏光板・シート類異物 ・シール、封止剤劣化
カタログ（26）
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この製品に関するニュース（3）
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恒温恒湿試験中の槽内撮影
当社では、前面ガラス窓の恒温恒湿槽とカメラを用いて、画面表示などの 動作状態を撮影・監視を行いながらの環境試験に対応します。 恒温恒湿槽などを用いた環境試験中に試験対象物の状態確認のため、 ロガーなどを用いたモニタリング(電圧・電流・抵抗、温度等)を 行う事は広く行われています。 ただし、試験中の機器の動作状況を監視することは専用の外部出力などが 試験対象機器に備えられていない限り困難なことがあります。 ロガー等でのモニタリングが困難なサンプルに対して、前面ガラス窓の オプションを装備した恒温恒湿槽とカメラ・監視ソフトを組み合わせ、 試験中の試験機器の状態を撮影・監視を行いながら環境試験を行います。
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液晶中の微量金属元素分析
信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 詳しくは下記関連製品・カタログよりご覧いただけます。
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液晶ディスプレイ材料分析
液晶ディスプレイは、液晶の他、シール材や封止材、偏光板など、 様々な有機材料が使用されています。 それぞれの部材の材料特性や材料劣化メカニズムを化学的な視点から 考察する事は、製品評価や製品不良解析において重要となります。 本資料では、液晶ディスプレイの部材ごとの化学分析例をご紹介しています。 【化学分析例】 ■FT-IR：主成分分析 ■EDX：元素分析 ■GCMS: 液晶成分分析 ■HS-GCMS︓アウトガス分析（劣化解析）ほか
