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デジタルマイクロスコープによる外観観察

不具合を的確に把握!広範囲の一括観察や部分拡大も可能で、様々な観察に対応します

検査員の目視だけでは、見逃す形状を鮮明に観察することによって、 不具合を的確に把握することができます。 広範囲の一括観察や部分拡大も可能、様々な観察に対応いたします。 また、IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍しており、国際規格に 則って観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに対応できます。 【特長】 ■広範囲の一括観察や部分拡大も可能 ■様々な観察に対応 ■全面観察後、箇所に関係なく鮮明な拡大観察が可能 ■予定外箇所の追加観察も容易 ■IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://www.ites.co.jp/section/index/%e8%a6%b3%e5%…

基本情報

【傾斜観察概要】 <デジタルマイクロスコープ:KEYENCE VHX-5000(使用レンズVH-Z50L)使用> ■-60°~+90°まで傾斜可能なレンズ機構により、実装部品の  側面などをそのまま観察することが可能 ■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープにより、  サンプル全体に焦点のあった合成画像が取得できる ■電動ステージにより、高倍での連結画像の作成が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

納期

用途/実績例

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

デジタルマイクロスコープによる外観観察

技術資料・事例集

断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス

その他資料

【資料】イオンマイグレーション評価試験

技術資料・事例集

【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察)

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【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定)

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実装部品・電子部品の断面研磨サービス

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実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)

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信頼性試験から観察までトータルコーディネート

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【資料】ウィスカ観察~平面ウィスカ観察のコツ~

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【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け

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取り扱い会社

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

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