パワーデバイスのHAST試験
パワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能！デバイスの劣化状況の推移もモニタリング
株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。 【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモニタリングにより､リアルタイムでの試料劣化を把握
基本情報
【仕様】 試験電圧 ：最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン･保護抵抗110kΩ) 試験数量 ：最大30個 (正極側) 対応モジュール ：TO-247､TO-220 等 (その他のパッケージは要相談：ソケット調達可) 測定内容 ：漏れ電流のモニタリング 試験装置 ：温度制御範囲 105.0℃～142.9℃ 湿度制御範囲 75%RH～100%RH 圧力範囲 0.020～0.196MPa（ゲージ圧） 【試験条件例】 JESD22-A110E ､ JEITA ED-4701-100A(試験方法302A) 等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■HAST試験 ■マイグレーション評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
