株式会社アイテス 公式サイト

【SEMによる断面観察】コネクタめっき

真実を探求!通信が悪くなった場合はコネクタ端子の不具合を疑ってみてもいいかもしれません

コネクタめっきの断面観察事例をご紹介いたします。 コネクタ端子のめっき状態が使用により、どのようになっているのか断面を 観察。今回、スジなし箇所とスジの程度が異なる2箇所で断面試料を作製し、 めっきの状態を確認しました。 結果、スジなしと比べるとスジAとスジBは、めっきの厚みが不均一であることが わかりました。これはコネクタの抜き差しによりめっきが引きずられ、厚みが 変化したためと思われます。 【コネクタめっき断面概要】 ■断面の作製はトリプルイオンミリングポリッシャー(通称CP )を使用 ■スジ箇所のめっき状態をSEMにて観察 ■結果  ・スジなし:表面Auめっきの厚さが均一(約350um)  ・スジA:表面Auめっきの厚さが不均一(約490nm/約350nm)  ・スジB:表面Auめっきの厚さが不均一(約130nm/約650nm) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://www.ites.co.jp/section/index/%e8%a6%b3%e5%…

基本情報

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

納期

用途/実績例

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【SEMによる断面観察】コネクタめっき

技術資料・事例集

断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス

その他資料

クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

製品カタログ

FE-SEM観察(Alワイヤボンディング部結晶粒観察)

製品カタログ

取り扱い会社

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

おすすめ製品