表面分析ガイド
様々な表面分析手法！異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します
当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困り ごとの解決に向けてお役立て致します。 微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射し オージェ電子を検出する「AES」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が 可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【分析手法】 ■EDX(EDS)：エネルギー分散型X線分析 ■AES：オージェ電子分光分析 ■XPS(ESCA)：X線光電子分光分析 ■TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【EDX(EDS)の特長】 ■微小領域の元素分析 ■バルク試料の分析 ■SEMとの併用が可能 ■元素マッピング ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【適用例】 ■EDX：微小異物分析、マイグレーション観察 ■AES：パッドの変色分析、酸化膜厚測定、ボンディング不良解析 ■XPS：基板表面の汚染分析、表面酸化の評価 ■TOF-SIMS：有機物・無機物汚染の分析、膜はじき異物の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
