表面分析ガイド

様々な表面分析手法！異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します

当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します。微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射しオージェ電子を検出する「AES」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。【分析手法】 ■EDX(EDS)：エネルギー分散型X線分析 ■AES：オージェ電子分光分析 ■XPS(ESCA)：X線光電子分光分析 ■TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報

【EDX(EDS)の特長】 ■微小領域の元素分析 ■バルク試料の分析 ■SEMとの併用が可能 ■元素マッピング ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

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納期

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用途／実績例

【適用例】 ■EDX：微小異物分析、マイグレーション観察 ■AES：パッドの変色分析、酸化膜厚測定、ボンディング不良解析 ■XPS：基板表面の汚染分析、表面酸化の評価 ■TOF-SIMS：有機物・無機物汚染の分析、膜はじき異物の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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この製品に関するニュース（1）

化学分析　おまかせサービス
- 製品ニュース
当社で取り扱う『化学分析　おまかせサービス』をご紹介いたします。製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、目的に合った手法を選ぶ必要があります。

2024年04月23日

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取り扱い会社

株式会社アイテス

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電話番号・住所

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として１９９３年に設立されました。日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

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