冷熱衝撃試験
電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価にも!
株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によってもストレスが加えられます。 電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても 当試験が行われます。 【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】 ■内法:W650×H460×D370mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ■内法:W650×H460×D670mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ■内法:W970×H460×D670mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
【冷熱衝撃試験規格の例】 ■JESD 22-A104 TEMPERATURE CYCLING ■IEC 60749-25 Temperature cycle ■EIAJ ED-4701/100 method 105 Temperature cycle ■MIL STD-883 1010.8 TEMPERATURE CYCLING ■その他、様々な試験規格で規定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途/実績例
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ(12)
カタログをまとめてダウンロードこの製品に関するニュース(2)
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実装基板の各種評価
株式会社アイテスでは、電子部品が搭載された基板(実装基板)の 評価テストについて多角的な技術サービスをご提供いたします。 信頼性試験をはじめ、はんだ接合部観察、ウイスカ観察、断面観察を実施。 IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍しており、国際規格に則った 観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに対応いたします。 その他、X線観察、外観観察、形状測定などのメニューもございますので、 ご用命の際は、お気軽にご相談ください。
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冷熱衝撃試験のひずみ測定
当社で行った「冷熱衝撃試験のひずみ測定」についてご紹介いたします。 冷熱衝撃試験装置にひずみゲージを貼り付けたサンプルをセットし、 ひずみゲージの配線は槽外のデータロガーに接続して試験中のひずみデータを リアルタイムで記録。 二種類の銅張積層板について、冷熱衝撃試験中のひずみ挙動を観測し、 温度の変化に伴い大きなひずみが生じることが観測されました。 FR-1はFR-4に比べ、生じるひずみがより大きいことが分かりました。