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冷熱衝撃試験

電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価にも!

株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によってもストレスが加えられます。 電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても 当試験が行われます。 【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】 ■内法:W650×H460×D370mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ■内法:W650×H460×D670mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ■内法:W970×H460×D670mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://www.ites.co.jp/guarantee/index/shinrai/rei…

基本情報

【冷熱衝撃試験規格の例】 ■JESD 22-A104 TEMPERATURE CYCLING ■IEC 60749-25 Temperature cycle ■EIAJ ED-4701/100 method 105 Temperature cycle ■MIL STD-883 1010.8 TEMPERATURE CYCLING ■その他、様々な試験規格で規定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

納期

用途/実績例

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

In-Situ 常時測定信頼性評価試験サービス

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半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

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信頼性試験に伴う経時変化観察

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信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察

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この製品に関するニュース(2)

取り扱い会社

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

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