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オージェ電子分光法による金めっき変色部の分析

オージェ電子分光法(AES)による金メッキパッド変色部の分析事例を紹介!

パッドの変色は、外観不良のみならず、ボンディング不良、はんだ濡れ不良、 接点の導電不良などの原因となります。 オージェ電子分光法(AES)による金メッキパッド変色部の分析事例を紹介します。 添付のPDF資料にて図やグラフを用いて詳しく解説しておりますので、 ぜひご覧ください。 ※詳細内容は、添付のPDF資料より閲覧いただけます。  詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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基本情報

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アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。