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パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析

シーメンス製の試験装置を使用した受託を実施!必要な各種治具の作製から対応する事も可能です

当社で行っている「パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と 故障解析」についてご紹介いたします。 パワー半導体の各部材の接合信頼性を評価すると共に、不良部で 実際にどのような異常が起こっているかを確認する事ができます。 試験に必要な各種治具の作製から対応する事も可能です。 ご用命の際はお気軽にご連絡ください。 【PWT2400A装置概要(一部)】 ■加熱用電源 600A×4台を装備 ■ゲート用電源-10V~20V×16台を装備 ■最大16chのデバイスを同時に試験 ■水冷式のモジュールにも対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

関連リンク - https://www.ites.co.jp/

基本情報

【その他のPWT2400A装置概要】 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■TOパッケージ用の治具を標準で装備 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

価格帯

納期

用途/実績例

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析

技術資料・事例集

パワーデバイスのトータルソリューションサービス

製品カタログ

クロスビームFIBによる断面観察

製品カタログ

パワーサイクル試験と特性評価

製品カタログ

短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析

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発光解析のための半導体の裏面研磨

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【保有設備】FIB(Focused Ion Beam)

技術資料・事例集

FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ

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取り扱い会社

アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として1993年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。