【分析事例】ディスプレイ
【分析事例】ディスプレイ
ディスプレイの分析事例をご紹介します
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【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定
ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます
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高純度雰囲気下での前処理・測定
XPS：X線光電子分光法など
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【分析事例】SIMSによるSi酸化膜・ITO膜中の｢水」の評価
｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析
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【分析事例】白色粉体の複合分析
FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定
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【分析事例】GCIB_Arクラスター有機材料劣化成分深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価
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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析
前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能
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【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定
X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です
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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価
雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です
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【分析事例】有機EL素子の電極/有機層界面の状態評価
不活性ガス雰囲気下で前処理からXPS測定まで行います
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【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価
TOF-SIMS深さ方向分析による劣化評価
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【分析事例】顔料・色素の分散の観察
TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定
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【分析事例】SIMSによる有機EL素子中不純物の深さ方向分析
有機EL素子を深さ方向分解能よく評価
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【分析事例】有機EL素子の層構造評価
雰囲気制御下で前処理を行うことで酸化劣化を防いだ分析が可能です
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【分析事例】有機EL素子の層構造評価
N2雰囲気下での切削加工で酸化劣化を防止
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【分析事例】有機EL発光層の成分分析
雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能
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【分析事例】有機EL素子の劣化評価
雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制
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【分析事例】SSDP-SIMSによるTFT配線交差部深さ方向分析
微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能
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【分析事例】有機ELディスプレイの総合評価
構造把握・材料評価・劣化原因特定など各種手法を組み合わせて評価します
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【分析事例】TEM・SEM有機EL・ゲート酸化膜の断面観察
低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます
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マイクロサンプリング法
FIB：集束イオンビーム加工
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【分析事例】IGZO
酸化物半導体のXRD・XRR分析事例
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GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定
熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて
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【分析事例】有機EL層の定性分析
雰囲気制御下での測定面出し加工により成分の変質を抑制
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【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析
TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能
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【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価
凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能
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【分析事例】SIMSによるGaN系LED不純物の深さ方向濃度分析
目的に応じた分析条件で測定します
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【分析事例】熱分解GC/MSによるスマートフォン封止剤の分析
2段階の加熱によりUV硬化系素材の分析が可能
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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析
下地・基板の影響なく異物の成分を同定します
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【分析事例】銅(Cu)の酸化膜厚評価 保管環境による違い
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
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【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価
TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価
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