すべての製品・サービス
151～180 件を表示 ／ 全 731 件
-
全光線透過率測定、全光線反射率測定
積分球を用いることで表面凹凸や厚みがあるサンプルも測定可能です
最終更新日
-
【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)加熱SSRM評価
誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化
最終更新日
-
固体分析 新サービス開始 （GDMS）
「多くの元素を感度よく測りたい!」というご要望にお応えします。 主成分から微量成分まで70元素以上の同時分析が可能です。
最終更新日
-
【分析事例】オリーブオイルの3D蛍光スペクトルと多変量解析
発光特性の解析から試料の比較が可能です。
最終更新日
-
【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察
アルコール消毒前後でマスク表面の形状を比較
最終更新日
-
【分析事例】二次電池正極活物質の劣化評価
結晶構造から活物質の劣化状態を評価
最終更新日
-
【分析事例】二次電池正極導電助剤の分散状態評価
Raman分光法によるカーボンの結晶性評価
最終更新日
-
【分析事例】有機EL(OLED)発光層の解析
発光層のゲストの定量・膜厚評価が可能
最終更新日
-
【分析事例】表面分析による品質管理
表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価できます
最終更新日
-
【分析事例】量子化学計算色素分子UV-Visシミュレーション
UV-Visスペクトルシミュレーションにより分子の電子的性質が調べられます
最終更新日
-
EV関連分析事例
分析でEV開発のEVolutionを！
最終更新日
-
【分析事例】加熱・冷却過程における経時変化のAFM動画観察
サンプル表面の形状変化をin situで評価
最終更新日
-
【分析事例】機械部品の洗浄前後における付着成分調査
洗浄効果評価や汚染物質の同定が出来ます
最終更新日
-
【分析事例】液晶材料の分子構造解析
GC/TOFMSにより液晶ディスプレイ中液晶分子の構造推定が可能です。
最終更新日
-
超低温プローブによる高感度NMR分析
微量成分のNMR分析が可能です
最終更新日
-
リートベルト解析（Rietveld analysis）とは
XRD等の測定データの解析から結晶内原子配置等の詳細な情報が得られます
最終更新日
-
nanoTAによる局所熱特性評価
局所熱分析システム（Nanoscale Thermal Analysis ）
最終更新日
-
量子化学計算から分かること
量子化学計算
最終更新日
-
【分析事例】GCIBのSiO2中アルカリ金属深さ方向濃度分布評価
SiO2膜の不純物の評価
最終更新日
-
蛍光寿命測定
物質の蛍光寿命を測定することにより発光過渡現象をよりダイナミックに把握できます
最終更新日
-
[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法
TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。
最終更新日
-
【分析事例】深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析
様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です
最終更新日
-
【分析事例】STD-NMRによる生体分子間相互作用の解析
低分子-タンパク質間相互作用の有無・強弱を分析
最終更新日
-
【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析
深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました
最終更新日
-
【分析事例】細菌の画像からの細胞周期評価
深層学習×データ解析により、多量のデータを活用して試料特性を評価できます
最終更新日
-
【分析事例】毛髪の三次元構造解析
X線CTと画像解析技術により、毛髪の定量評価が可能です
最終更新日
-
[Nano-simulation]ナノシミュレーション
ナノシミュレーションは物理・化学法則に基づいて原子・分子を取り扱う計算科学手法であり、多様な 現象を理解するために活用できます。
最終更新日
-
【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価
X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能
最終更新日
-
【分析事例】撥水箇所の成分分析
TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です
最終更新日
-
【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価
TOF-SIMSにより光ファイバーの材料の定性・分布評価が可能です
最終更新日