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【分析事例】SNDMおよびSMMによる拡散層評価
SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます
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【分析事例】STEM・EDXデータと像シミュレーションによる評価
STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます
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【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
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【分析事例】TOF-SIMSによる毛髪の評価
目的に応じた毛髪成分の評価が可能です
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【分析事例】SiC Trench MOSFETのトレンチ側壁評価
デバイス特性に関わるトレンチ側壁の粗さを定量評価
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SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価
ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察
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【分析事例】TDSによるグラフェンの脱ガス分析
炭素材料中の官能基や不純物などに起因する脱ガスについて評価可能です
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【分析事例】溶液中の金属量調査
純水やウエハ洗浄液等、様々な溶液の高感度分析が可能です
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【分析事例】SiC Planer Power MOSの分析
SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます（拡散層構造の高感度評価）
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【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価
高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能
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ご希望者全員プレゼント！表面分析の基礎と受託分析事例
〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基礎的な解説を充実。また表面分析を用いた代表的な事例を掲載。
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【分析事例】角度分解XPS（ARXPS）による極薄膜組成分布評価
基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です
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【分析事例】Sn酸化物に対する還元処理の検証
～XPSと計算シミュレーションの比較から～ 価電子帯スペクトルからの電子状態解析
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【分析事例】眼球に投与した薬剤成分の分布評価
眼球の加工と薬剤成分の可視化（イメージング）が可能です
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【分析事例】スマートフォン用保護フィルムのAFM分析
感覚的な製品の出来映えを定量評価可能
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【分析事例】X線CTによるポリウレタン内部の空隙率評価
X線CTによる多孔質樹脂材料の解析事例
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【分析事例】CFRP炭素繊維強化プラスチック内部の繊維配向解析
X線CTによるCFRPの解析事例
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【分析事例】貼り合わせウエハ内部の空隙調査
超音波顕微鏡による内部空隙の観察事例
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【分析事例】CMOSセンサの総合評価
スマートフォン部品のリバースエンジニアリング
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【分析事例】飲料中ジアセチルの定量
GC/MSによりジアセチル量が評価可能
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【分析事例】グラフェンの官能基の評価
熱分解GC/MS法によりグラフェンの官能基の評価が可能
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【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価
球体形状試料の評価事例
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【分析事例】AFMデータ集
AFM :原子間力顕微鏡法
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【分析事例】イメージセンサの拡散層形状評価
試料解体から測定まで一貫して対応します
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【分析事例】TDSによるステンレス中水素脱離量の分析
TDS（昇温脱離ガス分析法）で金属中水素の脱離量の評価が可能です
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【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価
ppmオーダーの微量金属も評価可能です
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【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価
試料断面における応力分布を確認することが可能です
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【分析事例】HPLCによる有機酸の分析
HPLC：高速液体クロマトグラフ法
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【分析事例】XPSによるμmオーダーの深さ方向分析
数μmの深さまで深さ方向分析を行います
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【分析事例】クリーンルーム内有機化合物の評価方法
GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
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