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球面収差補正機能
TEM：透過電子顕微鏡法
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SEM装置での歪み評価
EBSD：電子後方散乱回折法
最終更新日
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マイクロサンプリング法
FIB：集束イオンビーム加工
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垂直入射法による深さ方向分解能の向上
SIMS：二次イオン質量分析法
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ご依頼からの流れ
ご依頼から納品までの流れをまとめました。
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よくあるご質問（FAQ） サンプルについて
サンプルについて、よくお問い合わせいただくご質問を、FAQ形式でまとめました。
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よくあるご質問（FAQ） ご発注について
ご発注について、よくお問い合わせいただくご質問を、FAQ形式でまとめました。
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サンプルの送り方
分析を行うサンプルをMSTにお送りいただく際の送り方をまとめました。
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［TDS］昇温脱離ガス分析法
真空加熱/昇温により発生したガスを温度毎にモニターできる質量分析法。水素や水も感度よく確認
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［PL］フォトルミネッセンス法
PL：PhotoLuminescence
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