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［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。
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［Slice&View］三次元SEM観察法
FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
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［XAFS］X線吸収微細構造
XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する手法です
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［GDMS］グロー放電質量分析法
特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出
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［IC］イオンクロマトグラフ法
イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です
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ＰＶ（太陽電池）各種評価事例集
太陽電池（ＰＶ）の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価などの事例集です。国際太陽電池展でも展示した内容です。
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研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」
お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定までをお引き受けし、分析データをご提供。
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【分析事例】IGZO
酸化物半導体のXRD・XRR分析事例
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【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました！ 従来より空間分解能も向上し、狭い領域でも評価いたします。
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【分析事例】有機EL材料TOF-SIMSのRGB素子深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価
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【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価
急冷凍＋SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認！ ★第25回インターフェックスジャパンでデータ展示★
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［SIMS］二次イオン質量分析法
二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です
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［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法
ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得
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［XPS］X線光電子分光法
試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有効
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［SEM］走査電子顕微鏡法
高倍率観察(30万倍程度まで)が可能
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［AES］オージェ電子分光法
電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得られます
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［XRD］X線回折法
XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。
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[EBSD]電子後方散乱回折法
容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能
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［LC/MS］液体クロマトグラフィー質量分析法
イオンを検出器で検出し、定性・定量をおこなう分析手法です
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［AFM］原子間力顕微鏡法
ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
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［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法
数十μm角程度の領域の測定が可能
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［Raman］ラマン分光法
試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得る
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[EMS]エミッション顕微鏡法
故障箇所を迅速に特定
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［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法
有機化合物の定性・定量を行う分析手法です
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［XRR］X線反射率法
XRR：X-ray Reflectivity
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［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法
試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です
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［UPS］紫外光電子分光法
試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に
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［SAXS］X線小角散乱法
・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能
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［SCM］［SNDM］
キャリア分布を二次元的に可視化
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白色干渉計測法
非接触・非破壊で3次元測定可能
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