［XRD］X線回折法
XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。
基本情報
XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。Ｘ線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます（散乱X線）。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格子面間隔をd、 X線の入射角をθとした場合、第1面と第2面の行路差（－）は 2d sinθ となります。行路差が入射X線の波長λの整数倍の時に散乱X線が強め合い、ブラッグの法則が成り立ちます。
価格情報
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納期
用途／実績例
・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価 ・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定 ・high-k膜・Niシリサイド（NiSi）・Tiシリサイド（ＴｉSｉ）の結晶構造解析 ・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価
詳細情報
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取り扱い会社
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