基板打痕検査『Probe/Pin Mark Checker』
電気検査後の基板ダメージを見逃さない！高精度画像検査で微細な打痕・キズを早期検出し、不良流出と治具損傷を防止。
電気検査（プローブ検査）プロセスにおける「打痕」や「接触キズ」の流出、そして高価な治具・基板の破損リスクにお悩みではありませんか？ 弊社の『Probe/Pin Mark Checker（打痕検査ソリューション）』は、電気検査直後の基板をインラインで自動検査し、品質リスクをリアルタイムで管理・低減するシステムです。異常検知時の「自動ライン停止機能」により、同一箇所での欠陥の連続発生と不良流出を防ぎます。 【特徴】 ■高解像ド画像検査で微細な打痕を確実に検出 ■異常発生時の自動停止、即時確認を徹底 ■各種電気操作装置に対応
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当社の検査対象分野は、プリント基板や半導体パッケージ、ディスプレイパネルなど。IT化の進展でますます成長する情報通信機器や普及著しいデジタル家電のコア部品です。プリント基板・半導体パッケージ・ディスプレイパネルは、目を見張るようなスピードで進化し、検査においてもより高精度な技術が求められます。当社は最先端の技術が要求されるこれらの検査分野において高いシェアを占め、「デファクト・スタンダード（業界標準）」と認知されるような製品を数多く世界中に送り出しています。