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Webセミナー:フィルムの全面膜厚測定をリアルタイムに実現するラインスキャン膜厚計のご紹介(2025年5月21日)

大塚電子株式会社

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ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に影響をもたらします。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。

  • 開催日時 2025年05月21日(水)
    15:00 ~ 16:00
    質疑応答の数により時間が変わります。ご了承ください。
  • 参加費 無料 当セミナーを何でお知りに なりましたか?の質問に イプロス とご記入ください。

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