大塚電子株式会社 公式サイト

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！

【仕様】 ■膜厚範囲：0.1～300 μm ■測定幅：500 mm～最大10 m ■測定間隔：1 ms～ ■装置サイズ(W×D×H)：81×140×343 mm ■重量：4 kg(ヘッドのみ) ■最大消費電力：AC100V±10％ 125VA ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定　目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

【仕様(一部)】 ■分解能(x,y)：691nm(ワンショット)、488nm(合成) ■視野(x,y)：700×700μm ■分解能(z)：10nm(位相差) ■視野(z)：±700μm ■サンプルサイズ：100×80×t20mm(汎用サンプルホルダ取付時) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

※詳しくはＰＤＦ資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単　＜デモ機を無料貸し出し中＞

【そのほかの特長】 ■光干渉法により非接触・非破壊で測定が可能 ■基材（ガラス・プラスチック）を選ばず測定可能 ■最大3層の多層膜を測定可能 ※製品の詳細は、PDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

独自の分光器だからできるリタデーションの高精度測定！

【仕様】 ■測定項目(フィルム、光学材料)：リタデーション(波長分散)、遅相軸、Rth、3次元屈折率など ■測定項目(偏光板)：吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率など ■測定項目(液晶セル)：セルギャップ、プレチルト角、ツイスト角、配向角など ■リタデーション測定範囲：0～60,000nm ■リタデーション繰り返し性：3σ≦0.08nm(水晶波長板 約600nm) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。