大塚電子株式会社 公式サイト

2025年11月12日（水）から14日（金）まで、幕張メッセで「第16回 FILMTECH JAPAN - 高機能フィルム展 - 」が開催されます。 大塚電子のブースでは「光波動場三次元顕微鏡　MINUK」をはじめ、「ラインスキャン膜厚計」、「スマート膜厚計」などフィルム関連の測定装置を展示致します。 各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。

ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に大きく貢献します。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。

本セミナーでは、外部講師に東京理科大学薬学部 准教授 草森 浩輔 先生をお招きし、「波動場三次元顕微鏡を用いた培養細胞の観察とその応用」というテーマでご講演いただきます。 近年、ラベルフリーによる細胞観察技術は生命科学研究において注目を集めている。従来の蛍光標識を用いた方法は有用である一方、標識操作に伴う細胞機能への影響や長期観察の制限が課題とされてきた。光波動場三次元顕微鏡（3D-OWFM）は、光の波動性を利用して物質内部構造を非侵襲的かつ高精細に可視化できる新しい顕微鏡であり、これまで主に工業材料として用いられるプラスチックフィルムなどの傷や異物の検出や解析に応用されてきた。 我々は、大塚電子株式会社製3D-OWFM（MINUK）を用いることでラベルフリーで生細胞の形態や構造を観察可能であることを実証し、そのバイオ実験における有用性を評価してきた。 本講演では、これまでの研究成果を紹介するとともに、3D-OWFMによるバイオ実験へのさらなる応用可能性について議論する。

半導体のさらなる微細化が限界に近づく中、新たな技術アプローチとして中間工程を含むアドバンストパッケージ工程が注目を集めています。 本セミナーでは、こうした業界の最新動向を踏まえ、大塚電子の計測・分析機器がどのように課題解決に貢献できるかをご紹介します。実際の測定事例や最新トピックスも交えながら、最先端のソリューションをわかりやすく解説します。

今年も「第37回 散乱研究会」を開催する運びとなりましたのでご案内申し上げます。 　午前の部では、毎年多くの方々よりご好評いただいております光散乱基礎講座を実施し、これから光散乱の勉強をはじめられる方にも分かりやすく解説いたします。今年度は電気泳動光散乱法です。 　午後の部では、様々な分野のご講演者に光散乱法を活用した最新のご研究や応用例をご紹介していただきます。さらに今回も、講師の先生方や世話人に講演内容や各種散乱法についてご質問していただける「光散乱Q&A」の時間を設けております。また、実演可能な機器展示を併設した意見交換会を開催いたします。 　本研究会は、散乱関連技術の研究者や利用者、提供者が一堂に会し、それぞれが有する情報・意見の交換や知識・経験の共有ができる機会を提供すると共に、若手研究者の育成と散散乱技術のさらなる発展につながることを期待しております。 　有意義な研究会となりますよう皆様方の積極的なご参加をお待ち申し上げます。