信頼性試験
信頼性試験
アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。
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【分析解析事例】超音波顕微鏡による金属板越しの接着状態観察
超音波が透過するものであれば、外観から確認できない内部の情報を確認できます!
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半導体パッケージの超音波顕微鏡観察
トランジスタの超音波顕微鏡観察!同じ焦点でも様々な場所での剥離状況を確認可能
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プリント基板の超音波顕微鏡観察
外観検査では見えない基板内部の剥離も可視化が可能!
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パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析
シーメンス製の試験装置を使用した受託を実施!必要な各種治具の作製から対応する事も可能です
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スクラッチ試験後の表面・断面解析
表面観察だけでは分からない表面近傍の内部破壊メカニズムを把握!
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減圧繰り返し試験
減圧を繰り返して試験を行い圧力データから漏れが発生したタイミングを確認!
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加圧・減圧繰り返し試験
気密性を要求される製品の漏れを確認!加温や冷却状態での評価にも対応する受託試験サービス。
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電子部品の特性評価『フォトカプラ』
電子部品の評価として、信頼性試験の前後などに電気特性の測定を行い、試験後の合否判定や特性変化を確認するサービス
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パワーデバイスアナライザによる特性評価
パワーデバイスアナライザによる特性評価!半導体パラメータアナライザの機能とカーブトレーサの測定範囲を併せ持った装置
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