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【EBSDによる解析例】ネジ
ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。
EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認する ことができます。 今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も 観察されました。 【概要】 ■解析方法 ・EBSDにて結晶構造を観察 ■結果 ・ネジの谷部分の方位差が大きいことがわかった ・残留応力が大きいと推測 ・ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として１９９３年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。
製品・サービス一覧 (330)
FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析
株式会社アイテス
ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析
パワーデバイス故障箇所・Slice＆View 三次元再構築
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顕微FT-IR
機械研磨による半導体の観察例
冷熱衝撃試験のひずみ測定
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基板実装部品の断面観察
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酸化物系全固体電池の故障解析事例
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海外製 液晶ディスプレイの良品解析
異物分析・成分分析 顕微ラマンとFTIR比較
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SDGsへ貢献 材料／リサイクル原料比較分析
積層セラミックコンデンサ連続通電試験
加圧繰り返し試験
材料と熱の関係＜熱分析の紹介＞
液晶ディスプレイの輝度・色度ムラ評価
促進耐候性試験＜キセノンウェザーメーター＞
エッチング処理による金属間化合物の観察例
GCMSによる天然成分の識別
形状記憶合金の変態温度測定
結露サイクル試験
液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価
はんだ耐熱性試験(SMD)
海外製ディスプレイの不良解析
液晶中の微量金属元素分析
UV照射によるフィルム物性変化の解析
パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）
