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【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

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【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

測定したシリコンウエハは単結晶！IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的シンプルな結果になりました

EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこと から単結晶であることが確認できます。 測定したシリコンウエハは単結晶であるため、IPFマップ、極点図、 逆極点図は比較的シンプルな結果になりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【EBSDによる解析例】Chip

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【EBSDによる解析例】ビア

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【EBSDによる解析例】高融点はんだ

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【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

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EBSD法によるCu結晶解析

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EBSD法による解析例

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フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析

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EBSDによる解析例（セラミック）

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【資料】EBSDによるウイスカ解析

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【EBSDによる解析例】カニカン

技術資料・事例集

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【EBSDによる結晶解析】 アルミ溶接部（スポット溶接）

技術資料・事例集

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【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

技術資料・事例集

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【EBSDの事例】2つの黄銅材を比較

技術資料・事例集

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SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例

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取り扱い会社

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アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として１９９３年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。

製品・サービス一覧 (330)

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